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9781420043761 - Defects in Microelectronic Materials and Devices (13 resultados)
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: New. Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. SchrimpfUncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2008
ISBN 10: 1420043765 ISBN 13: 9781420043761
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 770.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 792 pages. 10.00x7.10x1.50 inches. In Stock.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2008
ISBN 10: 1420043765 ISBN 13: 9781420043761
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 302,63
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 770.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Inc Nov 2008, 2008
ISBN 10: 1420043765 ISBN 13: 9781420043761
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 290,47
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - Focusing primarily on silicon-based microelectronics, Defects in Microelectronic Materials and Devices provides a comprehensive overview of recent progress made in understanding the effects of electrically active defects in microelectronic materials. The book places particular emphasis on defects that limit device quality, reliability, manufacturability, and radiation response. Notable theorists and researchers present their perspectives on defects in insulators and in semiconductors as well as hydrogen and defect-related failure mechanisms. The text also discusses compound semiconductor materials for microelectronic applications and examines new information garnered from physics and engineering models.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2008
ISBN 10: 1420043765 ISBN 13: 9781420043761
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 259,61
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