Isbn: 9781402075070 - image-based fractal description of microstructures (18 resultados)

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    Editorial: Springer, 2003

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    Editorial: Springer, 2003

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    Editorial: Springer, 2003

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    Editorial: Springer, 2003

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    Editorial: Springer, 2003

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    Editorial: Kluwer Academic Publishers, 2003

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    Condición: New. Fractal analysis has become an important field in materials science and engineering with applications to theoretical analysis and quantitative description of microstructures of materials. This book attempts to introduce the fundamentals and the basic methods of fractal description of microstructures, with digital imaging and computer technologies. Num Pages: 272 pages, biography. BIC Classification: TGM. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 17. Weight in Grams: 586. . 2003. Hardback. . . . .…

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer US, 2003

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    Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Fractal analysis has rapidly become an important field in materials science and engineering with broad applications to theoretical analysis and quantitative description of microstructures of materials. Fractal methods have thus far shown great potential in engineering applications in quantitative microscopic analysis of materials using commercial microscopes. This book attempts to introduce the fundamentals and the basis methods of fractal description of microstructures in combination with digital imaging and computer technologies. Basic concepts are given in the form of mathematical expressions. Detailed algorithms in practical applications are also provided. Fractal measurement, error analysis and fractal description of cluster growth, thin films and surfaces are emphasized in this book. Image-Based Fractal Description of Microstructures provides a comprehensive approach to materials characterization by fractal from theory to application.…

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    Editorial: Springer, 2003

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    Editorial: Springer, 2003

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    Editorial: Springer, 2003

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    Editorial: Kluwer Academic Publishers, 2003

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    Condición: New. Fractal analysis has become an important field in materials science and engineering with applications to theoretical analysis and quantitative description of microstructures of materials. This book attempts to introduce the fundamentals and the basic methods of fractal description of microstructures, with digital imaging and computer technologies. Num Pages: 272 pages, biography. BIC Classification: TGM. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 17. Weight in Grams: 586. . 2003. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.…

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    Editorial: Springer, 2003

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    Editorial: Springer US, Springer US Jul 2003, 2003

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    Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Fractal analysis has rapidly become an important field in materials science and engineering with broad applications to theoretical analysis and quantitative description of microstructures of materials. Fractal methods have thus far shown great potential in engineering applications in quantitative microscopic analysis of materials using commercial microscopes. This book attempts to introduce the fundamentals and the basis methods of fractal description of microstructures in combination with digital imaging and computer technologies. Basic concepts are given in the form of mathematical expressions. Detailed algorithms in practical applications are also provided. Fractal measurement, error analysis and fractal description of cluster growth, thin films and surfaces are emphasized in this book. Image-Based Fractal Description of Microstructures provides a comprehensive approach to materials characterization by fractal from theory to application. 292 pp. Englisch.…

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    Editorial: Springer US, 2003

    1402075073 / 9781402075070

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    Editorial: Springer US, 2003

    1402075073 / 9781402075070

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    Buch. Condición: Neu. Image-Based Fractal Description of Microstructures | J. M. Li (u. a.) | Buch | xiii | Englisch | 2003 | Springer US | EAN 9781402075070 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.…

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    Editorial: Springer US, Springer US Jul 2003, 2003

    1402075073 / 9781402075070

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