Image-Based Fractal Description of Microstructures

Idioma: inglés

Editorial: Springer US, Springer US Jul 2003, 2003

1402075073 / 9781402075070

Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Fractal analysis has rapidly become an important field in materials science and engineering with broad applications to theoretical analysis and quantitative description of microstructures of materials. Fractal methods have thus far shown great potential in engineering applications in quantitative microscopic analysis of materials using commercial microscopes. This book attempts to introduce the fundamentals and the basis methods of fractal description of microstructures in combination with digital imaging and computer technologies. Basic concepts are given in the form of mathematical expressions. Detailed algorithms in practical applications are also provided. Fractal measurement, error analysis and fractal description of cluster growth, thin films and surfaces are emphasized in this book. Image-Based Fractal Description of Microstructures provides a comprehensive approach to materials characterization by fractal from theory to application. 292 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9781402075070

Título
Image-Based Fractal Description of Microstructures
Autor
J. M. Li
Editorial
Springer US, Springer US Jul 2003
Año de publicación
2003
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
1402075073
ISBN 13
9781402075070
Peso del artículo
606 gramos
Dimensiones
241x160x21 mm

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