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9781138075771 - Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems) (14 resultados)
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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Testing for Small-delay Defects in Nanoscale Cmos Integrated Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Sandeep Kumar Goel is a Senior Manager (DFT/3D-Test) with Taiwan Semiconductor Manufacturing Company (TSMC), San Jose, CA. He received his Ph.D. degree from the University of Twente, The Netherlands. Prior to TSMC, he was in various rese.
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Advances in design methods and process technologies are leading to a continuous increase in the complexity of integrated circuits (ICs). However, the increased complexity and nanometer-size features of modern ICs make them susceptible to manufacturing defects, as well as performance and quality issues. This book covers common problems in areas such as process variations, power supply noise, crosstalk, resistive opens/bridges, and design-for-manufacturing (DfM)-related rule violations. The book also addresses testing for small-delay defects (SDDs), which can cause timing failures on both critical and non-critical paths in the circuit.
