ISBN: 9781107409484 - materials reliability in microelectronics iii: volume 309 (mrs proceedings) (17 resultados)
Materials Reliability in Microelectronics III
Rodbell, Kenneth P. (EDT); Filter, William F. (EDT); Frost, Harold J. (EDT); Ho, Paul S. (EDT)
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Materials Reliability in Microelectronics III
Ho Paul S. Frost Harold J. Filter William F. Rodbell Kenneth P.
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Taschenbuch. Condición: Neu. Materials Reliability in Microelectronics III | Volume 309 | Kenneth P. Rodbell (u. a.) | Taschenbuch | Kartoniert / Broschiert | Englisch | 2012 | Cambridge University Press | EAN 9781107409484 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.…
