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9780824701826 - Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications de David, Rene (14 resultados)
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Random Testing of Digital Circuits : Theory and Application
Idioma: Inglés
Publicado por Marcel Dekker Inc., New York, NY, U.S.A., 1998
ISBN 10: 0824701828 ISBN 13: 9780824701826
Librería: PsychoBabel & Skoob Books, Didcot, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 29,60
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications
Librería: SHIMEDIA, Brooklyn, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 89,37
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Random Testing of Digital Circuits : Theory and Applications
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 16,00
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 496 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Random Testing Of Digital Circuits: Theory And Applications
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 192,43
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Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 377,54
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
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Random Testing of Digital Circuits : Theory & Application
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 380,49
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Random Testing of Digital Circuits : Theory & Application
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 404,96
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Random Testing of Digital Circuits : Theory & Application
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Random Testing of Digital Circuits : Theory & Application
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Random Testing of Digital Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 1998
ISBN 10: 0824701828 ISBN 13: 9780824701826
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 464,05
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 496 1st Edition.
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David, R: Random Testing of Digital Circuits
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 405,42
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Rene David is a Research Director at the Centre National de la recherche Scientififique working at the Instuit National Polytechnique de Grenoble, France. Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practi.
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Random Testing of Digital Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 1998
ISBN 10: 0824701828 ISBN 13: 9780824701826
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 492,93
Envío por EUR 9,95
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 496.
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Random Testing of Digital Circuits : Theory and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Inc Apr 1998, 1998
ISBN 10: 0824701828 ISBN 13: 9780824701826
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 499,74
Envío por EUR 64,27
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - 'Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practical guidance for the implementation of random pattern generators, signature analyzers design for random testability, and testing results. Contains several new and unpublished results. '.
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Random Testing of Digital Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 1998
ISBN 10: 0824701828 ISBN 13: 9780824701826
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 444,70
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 496 This item is printed on demand.
