Sinopsis
"Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practical guidance for the implementation of random pattern generators, signature analyzers design for random testability, and testing results. Contains several new and unpublished results. "
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Acerca del autor
Rene David is a Research Director at the Centre National de la recherche Scientififique working at the Instuit National Polytechnique de Grenoble, France.
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Random Testing of Digital Circuits : Theory and Application
Publicado por
Marcel Dekker Inc., New York, NY, U.S.A., 1998
ISBN 10: 0824701828
ISBN 13: 9780824701826
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Random Testing of Digital Circuits : Theory and Applications
Publicado por
Taylor & Francis Inc, 1998
ISBN 10: 0824701828
ISBN 13: 9780824701826
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David, R: Random Testing of Digital Circuits
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