9780792399209 - multi-chip module test strategies: 7 (frontiers in electronic testing, 7) (11 resultados)

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    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer 1997

      079239920X / 9780792399209

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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      Editorial: Springer 1997

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    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer 1997

      079239920X / 9780792399209

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      Editorial: Kluwer Academic Pub 1997

      079239920X / 9780792399209

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      Editorial: Springer US 1997

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      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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      Condición: New. MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test .

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer Us 1997

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      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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      Condición: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategi

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer 1997

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      Condición: As New. Unread book in perfect condition.

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer Us Mai 1997 1997

      079239920X / 9780792399209

      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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      Buch. Condición: Neu. Neuware - MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strate

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer 1997

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      Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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      Editorial: Springer 1997

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