9780792399209 - multi-chip module test strategies: 7 (frontiers in electronic testing, 7) (10 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1997
- Tapa dura
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1997
- Tapa dura
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EUR 116,74
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1997
- Tapa dura
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Condición: New. pp. 168.
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Pub, 1997
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Paperback. Condición: Brand New. 166 pages. 10.75x8.25x0.75 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, 1997
- Tapa dura
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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Condición: New. MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test .
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Us, 1997
- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
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EUR 82,40
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Condición: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategi…es presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1997
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer Us Mai 1997, 1997
- Tapa dura
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Buch. Condición: Neu. Neuware - MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strate…gies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1997
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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Condición: New. Print on Demand pp. 168 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1997
- Tapa dura
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