9780792399209 - multi-chip module test strategies: 7 (frontiers in electronic testing, 7) (11 resultados)

Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Condición: New. In.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
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Condición: New. pp. 168.

Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Pub 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, , Reino UnidoRevaluation Books
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Paperback. Condición: Brand New. 166 pages. 10.75x8.25x0.75 inches. In Stock.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer US 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: moluna, Greven, , Alemaniamoluna
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Condición: New. MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test .

Idioma: Inglés
Editorial: Springer Us 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, , AlemaniaBuchpark
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Condición: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategi…es presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).

Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer Us Mai 1997 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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Buch. Condición: Neu. Neuware - MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strate…gies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).

Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
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Condición: New. Print on Demand pp. 168 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer 1997
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 2 de 40. Libro 2 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
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