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Añadir al carritoCondición: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 280 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | FOR MIXED-SIGNAL COUPLING IN IC. niquesandsuggestspossiblesolutions.
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
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Añadir al carritoCondición: New. pp. xxiii + 280 Index.
Idioma: Inglés
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 1994
ISBN 10: 0792395441 ISBN 13: 9780792395447
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
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Añadir al carritoCondición: New. This text addresses two major issues of the mixed-signal coupling problem - how to simulate it and how to overcome it. It identifies some of the problems that will be encountered, gives examples of actual hardware experiences, offers simulation techniques and suggests possible solutions. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 280 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 235 x 155 x 22. Weight in Grams: 625. . 1994. Hardback. . . . .
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. List of Figures. List of Tables. Preface. 1. Introduction. 2. Sources of Noise and Methods of Coupling. 3. Semiconductor Device Simulation. 4. Simplified Substrate Modeling and Rapid Simulation. 5. Mesh Generation. 6. Substrate Modeling in Heavily-Doped.
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1995 edition. 304 pages. 9.75x6.50x0.75 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 1994
ISBN 10: 0792395441 ISBN 13: 9780792395447
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
EUR 246,03
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Añadir al carritoCondición: New. This text addresses two major issues of the mixed-signal coupling problem - how to simulate it and how to overcome it. It identifies some of the problems that will be encountered, gives examples of actual hardware experiences, offers simulation techniques and suggests possible solutions. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 280 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 235 x 155 x 22. Weight in Grams: 625. . 1994. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - 1 Introduction.- 2 Sources of Noise and Methods of Coupling.- 2.1 Semiconductor Device Noise and Phenomena.- 2.2 Noise from Switching Voltage and Current.- 2.3 Inductive Coupling.- 2.4 Capacitive Coupling.- 2.5 Substrate Coupling.- 2.6 Summary.- 3 Semiconductor Device Simulation.- 3.1 Significance.- 3.2 Basic Equations.- 3.3 Boundary Conditions.- 3.4 Models of Physical Parameters.- 3.5 Spatial Discretization.- 3.6 Solution Methods.- 3.7 A Representative Example.- 3.8 Summary.- 4 Simplified Substrate Modeling and Rapid Simulation.- 4.1 Simplified Equation.- 4.2 Spatial Discretization.- 4.3 Boundary Conditions.- 4.4 Solution Methods.- 4.5 Asymptotic Waveform Evaluation (AWE).- 4.6 Substrate AWE Macromodels.- 4.7 Transient Simulation of AWE Macromodels.- 4.8 Substrate DC Macromodels.- 4.9 Matrix Solution.- 4.10 Results.- 4.11 Summary.- 5 Mesh Generation.- 5.1 Adaptive Mesh Refinement.- 5.2 A Priori Mesh Refinement.- 5.3 Summary.- 6 Substrate Modeling in Heavily-Doped Bulk Processes.- 6.1 Motivation.- 6.2 Single Node Substrate Model.- 6.3 Modified Single Node Substrate Model.- 6.4 Summary.- 7 Substrate Resistance Extraction for Large Circuits.- 7.1 Nested Macromodeling.- 7.2 Interpolated Macromodeling.- 7.3 Summary.- 8 Modeling Chip/Package Power Distribution.- 8.1 Effect of Power Bus Structure on Noise coupling.- 8.2 Summary.- 9 Controlling Substrate Coupling in Heavily-Doped Bulk Processes.- 9.1 Characterization of noise coupling concepts.- 9.2 P+ Bulk Wafer Characterization.- 9.3 Effect of Substrate contact placement on coupled noise.- 9.4 Effect of Package Inductance on Substrate noise.- 9.5 Noise Coupling Control Techniques.- 9.6 Summary.- 10 Controlling Substrate Coupling in Bulk P- Wafers.- 10.1 Bulk P- Wafer Characteristics.- 10.2 Substrate Attenuation Structures.-10.3 Summary.- 11 Chip/Package Shielding and Good Circuit Design Practice.- 11.1 Far Field Radiated Emissions.- 11.2 Effect of Chip Signal Isolation/Shielding Techniques on Noise.- 11.3 Effect of Packaging on Noise.- 11.4 Effect of Card Layout and Referencing on Noise.- 11.5 Effect of Circuit Topology on Noise.- 11.6 Summary.- 12 A Design Example.- 12.1 Design of a Mixed-Signal IC.- 12.2 Summary.- Appendices.- A Mesh Moments.- B Convergence Behaviour of Iterative Methods.
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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