9780792391654 - neural models and algorithms for digital testing: 140 (the springer international series in engineering and computer science, 140) de bushnell, m.; chadradhar, s.t.; agrawal, vishwani (15 resultados)
- Tapa dura
Librería: BOOKWEST, Phoenix, AZ, Estados Unidos de AmericaBOOKWEST
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 88,98
Envío por EUR 4,31Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA.
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 90,41
Envío por EUR 3,45Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: New. pp. 204.
- Tapa dura
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 90,84
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: New. pp. 204.
Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Chakradhar, Srimat T.; Agrawal, Vishwani D.; Bushnell, Michael L.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 104,28
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 117,46
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 115,65
Envío por EUR 13,88Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Chakradhar, Srimat T.; Agrawal, Vishwani D.; Bushnell, Michael L.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 115,63
Envío por EUR 17,38Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Chakradhar, Srimat T.; Agrawal, Vishwani D.; Bushnell, Michael L.
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 133,16
Envío por EUR 10,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 197 pages, biography. BIC Classification: T; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1030. . 1991. Hardback. . . . .
Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Chakradhar, Srimat T.; Agrawal, Vishwani D.; Bushnell, Michael L.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 140,84
Envío por EUR 17,38Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 131,30
Envío por EUR 28,97Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Chakradhar, Srimat T.; Agrawal, Vishwani D.; Bushnell, Michael L.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 162,07
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Chakradhar, Srimat T.; Agrawal, Vishwani D.; Bushnell, Michael L.
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 166,13
Envío por EUR 9,07Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 197 pages, biography. BIC Classification: T; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1030. . 1991. Hardback. . . . . Books ship from t…he US and Ireland.
- Tapa dura
Librería: moluna, Greven, , Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 127,84
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Gebunden. Condición: New. References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82 9 QUADRATIC 0-1 PROGRAMMING 8S 9. 1 Energy Minimization 86 9. 2 Notation and Tenninology . . . . . . . . . . . . . . . . . 87 9. 3 Minimization Technique . . . . . . . . . . . . . . . . .
- Tapa dura
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 157,86
Envío por EUR 62,32Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Buch. Condición: Neu. Neuware - References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82 9 QUADRATIC 0-1 PROGRAMMING 8S 9. 1 Energy Minimization 86 9. 2 Notation and Tenninology . . . . . . . . . . . . . . . . . 87 9. 3 Minimization Technique . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88 9. 4 An Example . . . . . . . . . .… . . . . . . . . . . . . . . 92 9. 5 Accelerated Energy Minimization. . . . . . . . . . . . . 94 9. 5. 1 Transitive Oosure . . . . . . . . . . . . . . . . . 94 9. 5. 2 Additional Pairwise Relationships 96 9. 5. 3 Path Sensitization . . . . . . . . . . . . . . . . . 97 9. 6 Experimental Results 98 9. 7 Summary. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100 References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 100 10 TRANSITIVE CLOSURE AND TESTING 103 10. 1 Background . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 104 10. 2 Transitive Oosure Definition 105 10. 3 Implication Graphs 106 10. 4 A Test Generation Algorithm 107 10. 5 Identifying Necessary Assignments 112 10. 5. 1 Implicit Implication and Justification 113 10. 5. 2 Transitive Oosure Does More Than Implication and Justification 115 10. 5. 3 Implicit Sensitization of Dominators 116 10. 5. 4 Redundancy Identification 117 10. 6 Summary 119 References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119 11 POLYNOMIAL-TIME TESTABILITY 123 11. 1 Background 124 11. 1. 1 Fujiwara's Result 125 11. 1. 2 Contribution of the Present Work . . . . . . . . . 126 11. 2 Notation and Tenninology 127 11. 3 A Polynomial TlDle Algorithm 128 11. 3. 1 Primary Output Fault 129 11. 3. 2 Arbitrary Single Fault 135 11. 3. 3 Multiple Faults. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 137 11. 4 Summary. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139 References . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 139 ix 12 SPECIAL CASES OF HARD PROBLEMS 141 12. 1 Problem Statement 142 12. 2 Logic Simulation 143 12. 3 Logic Circuit Modeling . 146 12. 3. 1 Modelfor a Boolean Gate . . . . . . . . . . . . . 147 12. 3. 2 Circuit Modeling 148 12.
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, , Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 150,12
Envío por EUR 7,53Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. Print on Demand pp. 204 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
