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Design Automation. Automated Full-Custom VLSI Layout Using the ULYSSES Design Environment
Librería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 12,74
Envío por EUR 3,89
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Añadir al carritoCondición: Good. *Price HAS BEEN REDUCED by 10% until Monday, June 15 (SALE item)* 463 pp., hardcover, ex library, else text clean and binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal Vlsi Circuits
Libro 9 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,84
Envío por EUR 2,28
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Añadir al carritoCondición: good. May show signs of wear, highlighting, writing, and previous use. This item may be a former library book with typical markings. No guarantee on products that contain supplements Your satisfaction is 100% guaranteed. Twenty-five year bookseller with shipments to over fifty million happy customers.
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Design Automation: Automated Full-Custom VLSI Layout Using the ULYSSES Design Environment
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 89,57
Envío por EUR 14,48
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 482 pages. 9.00x6.00x1.09 inches. In Stock.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 104,29
Envío por EUR 2,28
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal Vlsi Circuits
Libro 9 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,36
Envío por EUR 17,38
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
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Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design (Frontiers in Electronic Testing, 4)
Libro 24 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,60
Envío por EUR 13,88
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design (Frontiers in Electronic Testing, 4)
Libro 24 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,60
Envío por EUR 13,88
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Efficient Branch and Bound Search With Application to Computer-Aided Design
Libro 24 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 130,56
Envío por EUR 2,28
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,59
Envío por EUR 17,38
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Efficient Branch and Bound Search With Application to Computer-Aided Design
Libro 24 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,59
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Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
Libro 24 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 141,19
Envío por EUR 3,45
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 164.
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Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
Libro 24 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 141,73
Envío por EUR 3,45
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Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
Libro 24 de 40: Frontiers in Electronic TestingIdioma: Inglés
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 1995
ISBN 10: 0792396731 ISBN 13: 9780792396734
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 132,44
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This text describes justification equivalence, in which duplication of computations is avoided in the dynamic branch-and-bound search process without using search decision trees. As well as covering the theoretical work, the book deals with applications, particularly ATPG for sequential circuits. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 160 pages, 1, black & white illustrations. BIC Classification: TBMM; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 410. . 1995. Hardback. . . . .
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
Libro 9 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 146,27
Envío por EUR 2,28
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Idioma: Inglés
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 1991
ISBN 10: 0792391659 ISBN 13: 9780792391654
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 133,16
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 197 pages, biography. BIC Classification: T; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1030. . 1991. Hardback. . . . .
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
Libro 9 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 140,02
Envío por EUR 17,38
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal Vlsi Circuits
Libro 9 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 155,59
Envío por EUR 2,28
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal Vlsi Circuits
Libro 9 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 155,64
Envío por EUR 2,28
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal Vlsi Circuits
Libro 9 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 140,02
Envío por EUR 17,38
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 140,78
Envío por EUR 17,38
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 162,10
Envío por EUR 2,28
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
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Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
Libro 24 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,70
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design | Michael L. Bushnell (u. a.) | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2011 | Humana | EAN 9781461285717 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal Vlsi Circuits
Libro 9 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 155,26
Envío por EUR 17,38
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
Libro 24 de 40: Frontiers in Electronic TestingIdioma: Inglés
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 1995
ISBN 10: 0792396731 ISBN 13: 9780792396734
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 165,45
Envío por EUR 9,07
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This text describes justification equivalence, in which duplication of computations is avoided in the dynamic branch-and-bound search process without using search decision trees. As well as covering the theoretical work, the book deals with applications, particularly ATPG for sequential circuits. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 160 pages, 1, black & white illustrations. BIC Classification: TBMM; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 410. . 1995. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Neural Models and Algorithms for Digital Testing
Idioma: Inglés
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 1991
ISBN 10: 0792391659 ISBN 13: 9780792391654
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 166,16
Envío por EUR 9,07
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 197 pages, biography. BIC Classification: T; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1030. . 1991. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
Libro 24 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,77
Envío por EUR 61,30
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Branch-and-bound search has been known for a long time and has been widely used in solving a variety of problems in computer-aided design (CAD) and many important optimization problems. In many applications, the classic branch-and-bound search methods perform duplications of computations, or rely on the search decision trees which keep track of the branch-and-bound search processes. In CAD and many other technical fields, the computational cost of constructing branch-and-bound search decision trees in solving large scale problems is prohibitive and duplications of computations are intolerable. Efficient branch-and-bound methods are needed to deal with today's computational challenges. Efficient branch-and-bound methods must not duplicate computations. Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design describes an efficient branch-and-bound method for logic justification, which is fundamental to automatic test pattern generation (ATPG), redundancy identification, logic synthesis, minimization, verification, and other problems in CAD. The method is called justification equivalence, based on the observation that justification processes may share identical subsequent search decision sequences. With justification equivalence, duplication of computations is avoided in the dynamic branch-and-bound search process without using search decision trees. Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design consists of two parts. The first part, containing the first three chapters, provides the theoretical work. The second part deals with applications, particularly ATPG for sequential circuits. This book is particularly useful to readers who are interested in the design and test of digital circuits.
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Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
Libro 24 de 40: Frontiers in Electronic TestingIdioma: Inglés
Publicado por Springer US, Springer US, 1995
ISBN 10: 0792396731 ISBN 13: 9780792396734
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,77
Envío por EUR 62,09
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Branch-and-bound search has been known for a long time and has been widely used in solving a variety of problems in computer-aided design (CAD) and many important optimization problems. In many applications, the classic branch-and-bound search methods perform duplications of computations, or rely on the search decision trees which keep track of the branch-and-bound search processes. In CAD and many other technical fields, the computational cost of constructing branch-and-bound search decision trees in solving large scale problems is prohibitive and duplications of computations are intolerable. Efficient branch-and-bound methods are needed to deal with today's computational challenges. Efficient branch-and-bound methods must not duplicate computations. Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design describes an efficient branch-and-bound method for logic justification, which is fundamental to automatic test pattern generation (ATPG), redundancy identification, logic synthesis, minimization, verification, and other problems in CAD. The method is called justification equivalence, based on the observation that justification processes may share identical subsequent search decision sequences. With justification equivalence, duplication of computations is avoided in the dynamic branch-and-bound search process without using search decision trees. Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design consists of two parts. The first part, containing the first three chapters, provides the theoretical work. The second part deals with applications, particularly ATPG for sequential circuits. This book is particularly useful to readers who are interested in the design and test of digital circuits.
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Efficient Branch and Bound Search With Application to Computer-Aided Design
Libro 24 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 177,77
Envío por EUR 17,38
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design (Frontiers in Electronic Testing (4))
Libro 24 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 168,24
Envío por EUR 28,96
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design (Frontiers in Electronic Testing (4))
Libro 24 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 171,82
Envío por EUR 28,96
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
