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9780521831994 - Focused Ion Beam Systems Hardback: Basics and Applications de Yao (20 resultados)
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 125,21
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 127,83
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,50
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,49
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 132,41
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Añadir al carritoCondición: New. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Editor(s): Nan, Yao. Num Pages: 408 pages, 196 b/w illus. BIC Classification: TBN; TGM; TJF. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 180 x 252 x 29. Weight in Grams: 862. . 2007. 1st Edition. hardcover. . . . .
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Focused Ion Beam Systems
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press CUP, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 166,66
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 408.
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 167,25
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Añadir al carritoCondición: New. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Editor(s): Nan, Yao. Num Pages: 408 pages, 196 b/w illus. BIC Classification: TBN; TGM; TJF. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 180 x 252 x 29. Weight in Grams: 862. . 2007. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 171,80
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 395 pages. 9.75x7.00x1.00 inches. In Stock.
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 228,86
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 178,11
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining this system with an electron beam creates a DualBeam - a single system that can function as an imaging, analytical and sample modification tool. Presenting the principles, capabilities, challenges and applications of the FIB technique, this edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the ion beam technology including the DualBeam. The basic principles of ion beam and two-beam systems, their interaction with materials, etching and deposition are all covered, as well as in situ materials characterization, sample preparation, three-dimensional reconstruction and applications in biomaterials and nanotechnology. With nanostructured materials becoming increasingly important in micromechanical, electronic and magnetic devices, this self-contained review of the range of ion beam methods, their advantages, and when best to implement them is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology.
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 219,34
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 253,45
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Focused Ion Beam Systems (Hardcover)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, Cambridge, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición Impresión bajo demanda
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Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Hardcover. The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining this system with an electron beam creates a DualBeam - a single system that can function as an imaging, analytical and sample modification tool. Presenting the principles, capabilities, challenges and applications of the FIB technique, this edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the ion beam technology including the DualBeam. The basic principles of ion beam and two-beam systems, their interaction with materials, etching and deposition are all covered, as well as in situ materials characterization, sample preparation, three-dimensional reconstruction and applications in biomaterials and nanotechnology. With nanostructured materials becoming increasingly important in micromechanical, electronic and magnetic devices, this self-contained review of the range of ion beam methods, their advantages, and when best to implement them is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. This item is printed on demand. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 125,73
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 395 pages. 9.75x7.00x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 131,75
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Focused Ion Beam Systems (Hardcover)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, Cambridge, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición Impresión bajo demanda
EUR 130,51
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Focused Ion Beam Systems
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 169,95
Envío por EUR 7,52
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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Focused Ion Beam Systems
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2013
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 130,42
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Focused Ion Beam Systems
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2007
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 169,34
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Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 408.
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Focused Ion Beam Systems | Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2013
ISBN 10: 0521831997 ISBN 13: 9780521831994
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 135,25
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Focused Ion Beam Systems | Basics and Applications | Nan Yao | Buch | Gebunden | Englisch | 2013 | Cambridge University Press | EAN 9780521831994 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
