Isbn: 9780367780289 - statistical methods for materials science: the data science of microstructure characterization (18 resultados)
Statistical Methods for Materials Science : The Data Science of Microstructure Characterization
Simmons, Jeffrey P. (EDT); Drummy, Lawrence F. (EDT); Bouman, Charles A. (EDT); De Graef, Marc (EDT)
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Jeffrey P. Simmons, Lawrence F. Drummy, Charles A. Bouman, Marc De Graef
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Taschenbuch. Condición: Neu. Statistical Methods for Materials Science | The Data Science of Microstructure Characterization | Jeffrey P. Simmons (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2021 | CRC Press | EAN 9780367780289 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu. …
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Data analytics has become an integral part of materials science. This book provides the practical tools and fundamentals needed for researchers in materials science to understand how to analyze large datasets using statistical methods, especially inverse methods applied to microstructure characterization. It contains valuable guidance on essential topics such as denoising and data modeling. Additionally, the analysis and applications section addresses compressed sensing methods, stochastic models, extreme estimation, and approaches to pattern detection. 538 pp. Englisch.…
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Taschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Data analytics has become an integral part of materials science. This book provides the practical tools and fundamentals needed for researchers in materials science to understand how to analyze large datasets using statistical methods, especially inverse methods applied to microstructure characterization. It contains valuable guidance on essential topics such as denoising and data modeling. Additionally, the analysis and applications section addresses compressed sensing methods, stochastic models, extreme estimation, and approaches to pattern detection.…
