9780367554941 - characterization, testing, measurement, and metrology (manufacturing design and technology) (16 resultados)
Characterization, Testing, Measurement and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Characterization, Testing, Measurement and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
- Tapa blanda
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Characterization, Testing, Measurement and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Group, 2024
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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Condición: New. pp. 192.
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Characterization, Testing, Measurement and Metrology
Prakash, Chander (EDT); Singh, Sunpreet (EDT); Davim, J. Paulo (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 90,31
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Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Group, 2024
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Condición: New. pp. 192 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Ltd, 2024
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Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino UnidoTHE SAINT BOOKSTORE
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Group, 2024
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Condición: New. pp. 192.
Characterization, Testing, Measurement and Metrology
Prakash, Chander (Editor)/ Singh, Sunpreet (Editor)/ Davim, J. Paulo (Editor)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Pr I Llc, 2024
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Editorial: Taylor & Francis Ltd, 2024
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2024
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Kartoniert / Broschiert. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Chander Prakash, Sunpreet Singh, J. Paulo DavimThis book presents the broad aspects of measurement, performanceanalysis, and characterization for materials and devices through advanced manufac…turing processes. The field of measurement and metrology a.
