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9780367492823 - Advanced VLSI Design and Testability Issues (17 resultados)
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 140,20
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 155,19
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 143,21
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 159,14
Envío por EUR 2,30
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 163,65
Envío por EUR 7,67
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,37
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 158,52
Envío por EUR 19,01
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 166,83
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 181,61
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 186,41
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 179,95
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 214,11
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 359 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 119,01
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Suman Lata Tripathi is associated with Lovely Professional University, Phagwara, Punjab, as Professor with more than seventeen years of experience in academics. Her area of expertise includes microelectronics device modeling and characterization, low pow.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 169,70
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Añadir al carritoHRD. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Advanced VLSI Design and Testability Issues | Suman Lata Tripathi (u. a.) | Buch | Englisch | 2020 | CRC Press | EAN 9780367492823 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This book provides in-depth knowledge of VLSI and also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields e.g. image processing and biomedical. The role of fault simulation algorithms is very well explained and its implementation using Verilog is the key aspect of this book.
