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Publicado por Elsevier Science and Technology, GB, 2022
ISBN 10: 0323988636 ISBN 13: 9780323988636
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Publicado por Elsevier Science and Technology, GB, 2022
ISBN 10: 0323988636 ISBN 13: 9780323988636
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Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science Aug 2022, 2022
ISBN 10: 0323988636 ISBN 13: 9780323988636
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 224 highlights new advances in the field, with this new volume presenting interesting chapters on Measuring elastic deformation and orientation gradients by scanning electron microscopy - conventional, new and emerging methods, Development of an alternative global method with high angular resolution, Implementing the new global method, Numerical validation of the method and influence of optical distortions, and Applications of the method. 266 pp. Englisch.
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Publicado por Elsevier Science & Technology, Academic Press, 2022
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