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9780306458965 - Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis: 5 (Methods of Surface Characterization, 5) de Czanderna, A. W.; Powell, C. J. (16 resultados)
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![Imagen de archivo de Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis (Methods of Surface Characterization, 5) [Hardcover] Czanderna, Alvin W.; Madey, Theodore E. and Powell, Cedric J. a la venta por BooksElleven](https://pictures.abebooks.com/isbn/9780306458965-es-300.jpg)
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis (Methods of Surface Characterization, 5) [Hardcover] Czanderna, Alvin W.; Madey, Theodore E. and Powell, Cedric J.
Librería: BooksElleven, Three Oaks, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 39,91
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. Nice cover. Previous owner name to front paste down. Clean pages throughout. Binding excellent.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis (Methods of Surface Characterization) (Volume 5)
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 58,57
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Añadir al carritoCondición: Fair. Volume 5. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,850grams, ISBN:9780306458965.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis (Methods of Surface Characterization, 5)
Librería: CONTINENTAL MEDIA & BEYOND, Ocala, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 73,53
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Añadir al carritoCondición: Used: Good. 1998 hardcover, no dj as issued, xlibrary copy withdrawn, stamp on edge of pages/in book, clean text, clean crisp pages except for stamp, has bookplate, 430 pages::: J-10.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Proceedings of the 172nd WE-Heraeus-Seminar Held in Bad Honnef, Germany, April 7-11, 1997
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Proceedings of the 172nd WE-Heraeus-Seminar Held in Bad Honnef, Germany, April 7-11, 1997
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 129,55
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 162,90
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 456 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 163,43
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 456.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis (Methods of Surface Characterization, 5)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 161,46
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis (Methods of Surface Characterization (5))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 191,22
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 224,43
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Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Many books are available that detail the basic principles of the different methods of surface characterization. On the other hand, the scientific literature provides a resource of how individual pieces of research are conducted by particular labo- tories. B.
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Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 244,90
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - Many books are available that detail the basic principles of the different methods of surface characterization. On the other hand, the scientific literature provides a resource of how individual pieces of research are conducted by particular labo- tories. Between these two extremes the literature is thin but it is here that the present volume comfortably sits. Both the newcomer and the more mature scientist will find in these chapters a wealth of detail as well as advice and general guidance of the principal phenomena relevant to the study of real samples. In the analysis of samples, practical analysts have fairly simple models of how everything works. Superimposed on this ideal world is an understanding of how the parameters of the measurement method, the instrumentation, and the char- teristics of the sample distort this ideal world into something less precise, less controlled, and less understood. The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.
