Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Proceedings of the 172nd WE-Heraeus-Seminar Held in Bad Honnef, Germany, April 7-11, 1997

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ISBN 10: 0306458969 ISBN 13: 9780306458965
Editorial: Springer, 1998
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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