Importe total (1 artículo artículos):
Destino del pedido:
9780306455964 - Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2 de Samuel H. Cohen; U S Army Soldier Systems Command Natick (14 resultados)
Ir a los resultados principales
Filtros de búsqueda
Tipo de artículo
- Todos los tipos de productos
- Libros (14)
- Revistas y publicaciones (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Cómics (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Partituras (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Arte, grabados y pósters (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Fotografías (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Mapas (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Manuscritos y coleccionismo de papel (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Condición Más información
- Nuevo (12)
- Como nuevo, Excelente o Muy bueno (2)
- Bueno o Aceptable (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Regular o Pobre (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Tal como se indica (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Encuadernación
- Todas
- Tapa dura (14)
- Tapa blanda (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Más atributos
- Primera edición (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Firmado (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Sobrecubierta (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Con imágenes (7)
- No impresión bajo demanda (14)
Idioma (1)
Precio
- Cualquier precio
- Menos de EUR 20 (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- EUR 20 a EUR 45 (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Más de EUR 45
Gastos de envío gratis
Ubicación del vendedor
Valoración de los vendedores
-
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 76,50
Envío por EUR 3,44
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 268.
-
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 74,70
Envío por EUR 7,53
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 268 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.
-
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 75,04
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 268.
-
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 163,11
Envío por EUR 13,87
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
-
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 179,35
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
-
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,40
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
-
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 163,10
Envío por EUR 17,37
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
-
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 181,64
Envío por EUR 17,37
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
-
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Science+Business Media, US, 1997
ISBN 10: 030645596X ISBN 13: 9780306455964
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 206,78
Gastos de envío gratis
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. 1997 ed.
-
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Idioma: Inglés
Publicado por Kluwer Boston Incorporated, 1997
ISBN 10: 030645596X ISBN 13: 9780306455964
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 203,16
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994 Editor(s): Cohen, S.H.; Lightbody, Marcia L. Num Pages: 250 pages, biography. BIC Classification: PDND; TBC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 254 x 178 x 16. Weight in Grams: 1610. . 1997. 1997th Edition. hardcover. . . . .
-
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,46
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994 This book represents the compilation of papers presented at the second Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium, held June 7 to 9, 1994, i.
-
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Idioma: Inglés
Publicado por Kluwer Boston Incorporated, 1997
ISBN 10: 030645596X ISBN 13: 9780306455964
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 253,40
Envío por EUR 9,05
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994 Editor(s): Cohen, S.H.; Lightbody, Marcia L. Num Pages: 250 pages, biography. BIC Classification: PDND; TBC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 254 x 178 x 16. Weight in Grams: 1610. . 1997. 1997th Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
-
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Science+Business Media, US, 1997
ISBN 10: 030645596X ISBN 13: 9780306455964
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 196,21
Envío por EUR 75,25
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. 1997 ed.
-
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 242,88
Envío por EUR 63,40
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - This book represents the compilation of papers presented at the second Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium, held June 7 to 9, 1994, in Natick, Massachusetts, at Natick Research, Development and Engineering Center, now part ofU.S. Army Soldier Systems Command. As with the 1993 symposium, the 1994 symposium provided a forum where scientists with a common interest in AFM, STM, and other probe microscopies could interact with one another, exchange ideas and explore the possibilities for future collaborations and working relationships. In addition to the scheduled talks and poster sessions, there was an equipment exhibit featuring the newest state-of-the-art AFM/STM microscopes, other probe microscopes, imaging hardware and software, as well as the latest microscope-related and sample preparation accessories. These were all very favorably received by the meeting's attendees. Following opening remarks by Natick's Commander, Colonel Morris E. Price, Jr., and the Technical Director, Dr. Robert W. Lewis, the symposium began with the Keynote Address given by Dr. Michael F. Crommie from Boston University. The agenda was divided into four major sessions. The papers (and posters) presented at the symposium represented a broad spectrum of topics in atomic force microscopy, scanning tunneling microscopy, and other probe microscopies.
