Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

Samuel H. Cohen

ISBN 10: 030645596X ISBN 13: 9780306455964
Editorial: Springer Science+Business Media, US, 1997
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

Vendido por Rarewaves.com UK, London, Reino Unido

Vendedor de AbeBooks desde 11 de junio de 2025

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa dura

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 196,21
Envío por EUR 75,25
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito