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9780306449017 - Advances in X-Ray Analysis: Volume 37: Vol.37 (Advances in x-Ray Analysis: Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held ... (10 resultados)
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Advances in X-Ray Analysis - A Delicate Balance
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
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Advances in X-Ray Analysis - A Delicate Balance
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
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Advances in X-Ray Analysis: Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver, Colorado, August 2-6: Vol.37
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Advances in X-Ray Analysis: Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver, Colorado, August 2-6: Vol.37
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Advances in X-Ray Analysis, Vol. 37
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Advances in X-Ray Analysis: Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver, Colorado, August 2-6: Vol.37
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 96,02
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Advances in X-ray Analysis
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Advances in X-Ray Analysis: Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver, Colorado, August 2-6: Vol 37
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 150,92
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 784 pages. 10.25x7.00x1.75 inches. In Stock.
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Advances in X-Ray Analysis : Volume 37
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Nature B.V. Okt 1994, 1994
ISBN 10: 0306449013 ISBN 13: 9780306449017
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - 89 articles organized under the following section heads: Impact of Computers on Xray Analysis. Applications of Whole Pattern Fitting: Structure Determination, Phase Identification, Lattice Parameters. Search/Match Methods, Phase Identification. Diffraction from Single Crystals and Epitaxial Films. Xray Characterization of Films and Surface Layers. Strain and Stress Determination, Xray Fractography, Diffraction Peak Broadening Analysis. Advances in Detectors and Counting Electronics. XRD Techniques and Instrumentation, Nonambient Applications, Texture, other Applications. Xray Optics, Monochromators and Synthetic Multilayers. Total Reflection XRF Applications and Instrumentation, other XRF Techniques and Instrumentation. Mathematical Techniques in Xray Spectrometry. Geological and other Applications of XRS. Index.
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Advances in x-Ray Analysis: Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver, Colorado, August 2-6,: Vol.37
Idioma: Inglés
Publicado por Kluwer Academic Publishers Group, 1994
ISBN 10: 0306449013 ISBN 13: 9780306449017
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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