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9780306421402 - Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis de Echlin, Patrick; Fiori, C.E.; Goldstein, Joseph (9 resultados)
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 4,55
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ADVANCED SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X-RAY MICROANALYSIS
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 67,97
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 86,65
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 84,96
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 84,86
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Advanced Scanning Electron Microscopy And X-ray Microanalysis
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Advanced Scanning Electron Microscopy And X-ray Microanalysis
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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