Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Dale E. Newbury David C. Joy Joseph Goldstein C.E. Fiori Patrick Echlin

ISBN 10: 0306421402 ISBN 13: 9780306421402
Editorial: Springer, 1986
Idioma: Inglés
Condición: Usado Encuadernación de tapa dura

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