Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Dale E. Newbury David C. Joy Joseph Goldstein C.E. Fiori Patrick Echlin

ISBN 10: 0306421402 ISBN 13: 9780306421402
Editorial: Springer, 1986
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

Vendido por Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America

Vendedor de AbeBooks desde 22 de noviembre de 2018

Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas Valoración 4 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa dura

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 87,84
Envío por EUR 3,40
Se envía dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito