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9780195071504 - Introduction to Scanning Tunneling Microscopy: 4 (Oxford Series in Optical & Imaging Sciences) de Chen, C. Julian (17 resultados)
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 37,79
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: Solr Books, Lincolnwood, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: Book House in Dinkytown, IOBA, Minneapolis, MN, Estados Unidos de America
Miembro de asociación: IOBA
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Cary, North Carolina, U.S.A.: Oxford Univ Pr, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: Rob the Book Man, Vancouver, WA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 79,67
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Fine. hardcover in fine condition with fine dust jacket.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Oxford Series in Optical and Imaging Sciences)
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: GoldBooks, Denver, CO, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 149,48
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 250,78
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Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 252,42
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press OUP, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 251,22
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 472 Illustrated Edition.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 265,62
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Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 472.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 211,20
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Introduction to Scanning Tunneling Microscopy | C. Julian Chen | Buch | Gebunden | Englisch | 1993 | Oxford University Press | EAN 9780195071504 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 269,52
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 472.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (Hardcover)
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press Inc, New York, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 267,86
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Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Hardcover. Due to its nondestructive imaging power, scanning tunneling microscopy has found major applications in the fields of physics, chemistry, engineering, and materials science. This book provides a comprehensive treatment of scanning tunneling and atomic force microscopy, with full coverage of the imaging mechanism, instrumentation, and sample applications. The work is the first single-author reference on STM and presents much valuable information previously availableonly as proceedings or collections of review articles. It contains a 32-page section of remarkable STM images, and is organized as a self-contained work, with all mathematical derivations fullydetailed. As a source of background material and current data, the book will be an invaluable resource for all scientists, engineers, and technicians using the imaging abilities of STM and AFM. It may also be used as a textbook in senior-year and graduate level STM courses, and as a supplementary text in surface science, solid-state physics, materials science, microscopy, and quantum mechanics. A guide to the use of STMs, written at the level of an advanced undergraduate physics student. The text can be read by nonspecialists working in related fields as well as students. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1993
ISBN 10: 0195071506 ISBN 13: 9780195071504
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Due to its nondestructive imaging power, scanning tunneling microscopy has found major applications in the fields of physics, chemistry, engineering, and materials science. This book provides a comprehensive treatment of scanning tunneling and atomic force microscopy, with full coverage of the imaging mechanism, instrumentation, and sample applications. The work is the first single-author reference on STM and presents much valuable information previously available only as proceedings or collections of review articles. It contains a 32-page section of remarkable STM images, and is organized as a self-contained work, with all mathematical derivations fully detailed. As a source of background material and current data, the book will be an invaluable resource for all scientists, engineers, and technicians using the imaging abilities of STM and AFM. It may also be used as a textbook in senior-year and graduate level STM courses, and as a supplementary text in surface science, solid-state physics, materials science, microscopy, and quantum mechanics.
