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9780120885749 - Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices de Ohring, Milton; Lloyd, James R.; Kasprzak, Lucian (16 resultados)
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Librería: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, Estados Unidos de America
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Academic Press 2014-10-21, 2014
ISBN 10: 0120885743 ISBN 13: 9780120885749
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices, Second Edition
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices, Second Edition
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science Publishing Co Inc, 2014
ISBN 10: 0120885743 ISBN 13: 9780120885749
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices, Second Edition
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 160,88
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoKartoniert / Broschiert. Condición: New. Covers all major types of electronics materials degradation and their causes, including dielectric breakdown, hot-electron effects, electrostatic discharge, corrosion, and failure of contacts and solder joints New updated sections on fail.
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 118,06
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 2nd edition. 734 pages. 9.00x6.25x1.75 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices is a well-established and well-regarded reference work offering unique, single-source coverage of most major topics related to the performance and failure of materials used in electronic devices and electronics packaging. With a focus on statistically predicting failure and product yields, this book can help the design engineer, manufacturing engineer, and quality control engineer all better understand the common mechanisms that lead to electronics materials failures, including dielectric breakdown, hot-electron effects, and radiation damage. This new edition adds cutting-edge knowledge gained both in research labs and on the manufacturing floor, with new sections on plastics and other new packaging materials, new testing procedures, and new coverage of MEMS devices. 760 pp. Englisch.
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Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 158,00
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices is a well-established and well-regarded reference work offering unique, single-source coverage of most major topics related to the performance and failure of materials used in electronic devices and electronics packaging. With a focus on statistically predicting failure and product yields, this book can help the design engineer, manufacturing engineer, and quality control engineer all better understand the common mechanisms that lead to electronics materials failures, including dielectric breakdown, hot-electron effects, and radiation damage. This new edition adds cutting-edge knowledge gained both in research labs and on the manufacturing floor, with new sections on plastics and other new packaging materials, new testing procedures, and new coverage of MEMS devices.
