Yahagi yasuo (6 resultados)
TERRESTRIAL NEUTRON-INDUCED SOFT ERROR IN ADVANCED MEMORY DEVICES
Nakamura, Takashi,Ibe, Eishi,Baba, Mamoru,Yahagi, Yasuo,Kameyama, Hideaki
- Tapa dura
Librería: suffolkbooks, center moriches, NY, Estados Unidos de Americasuffolkbooks
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 33,38
Envío por EUR 3,44Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
hardcover. Condición: Very Good. Fast Shipping - Safe and Secure 7 days a week.
Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices.
Nakamura, Takashi/Ibe, Eishi/Baba, Mamoru/Yahagi, Yasuo/Kameyama, Hideaki
- Tapa dura
Librería: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, , AlemaniaUniversitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado
EUR 21,00
Envío por EUR 30,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
15 x 23 cm. 368 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices
Nakamura, Takashi; Ibe, Eishi; Baba, Mamoru; Yahagi, Yasuo; Kameyama, Hideaki
- Tapa dura
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 104,99
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices
Hideaki Kameyama Yasuo Yahagi Eishi Ibe Mamoru Baba Takashi Nakamura
Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Company, Incorporated 2008
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado
EUR 120,84
Envío por EUR 3,44Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Used. pp. xxii + 343 Index.
Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices
Kameyama Hideaki Yahagi Yasuo Ibe Eishi Baba Mamoru Nakamura Takashi
Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Company, Incorporated 2008
- Tapa dura
Librería: Majestic Books, Hounslow, , Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado
EUR 122,89
Envío por EUR 7,52Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Used. pp. xxii + 343 Figures, Illus.
Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices
Kameyama Hideaki Yahagi Yasuo Ibe Eishi Baba Mamoru Nakamura Takashi
Idioma: Inglés
Editorial: World Scientific Publishing Company, Incorporated 2008
- Tapa dura
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado
EUR 123,42
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Used. pp. xxii + 343.
