Terrestrial Neutron-Induced Soft Errors in Advanced Memory Devices

Nakamura, Takashi; Ibe, Eishi; Baba, Mamoru; Yahagi, Yasuo; Kameyama, Hideaki

ISBN 10: 9812778810 ISBN 13: 9789812778819
Editorial: World Scientific Publishing Company, 2008
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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