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Idioma: Inglés
Publicado por ISTE Press Ltd - Elsevier Inc, 2021
ISBN 10: 1785481541 ISBN 13: 9781785481543
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Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science & Technology, ISTE Press - Elsevier, 2021
ISBN 10: 1785481541 ISBN 13: 9781785481543
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Advanced Laser Diode Reliability focuses on causes and effects of degradations of state-of-the-art semiconductor laser diodes. It aims to provide a tool for linking practical measurements to physical diagnostics. To this purpose, it reviews the current technologies, addressing their peculiar details that can promote specific failure mechanisms. Two sections will support this kernel: a) Failure Analysis techniques, procedures and examples; b) Device-oriented laser modelling and parameter extraction. Englisch.
Idioma: Inglés
Publicado por ISTE Press Ltd - Elsevier Inc, 2021
ISBN 10: 1785481541 ISBN 13: 9781785481543
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
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Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science & Technology, ISTE Press - Elsevier, 2021
ISBN 10: 1785481541 ISBN 13: 9781785481543
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Advanced Laser Diode Reliability focuses on causes and effects of degradations of state-of-the-art semiconductor laser diodes. It aims to provide a tool for linking practical measurements to physical diagnostics. To this purpose, it reviews the current technologies, addressing their peculiar details that can promote specific failure mechanisms. Two sections will support this kernel: a) Failure Analysis techniques, procedures and examples; b) Device-oriented laser modelling and parameter extraction.