Massimo vanzi (13 resultados)
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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EUR 116,52
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Condición: New.
Advanced Laser Diode Reliability
Vanzi, Massimo (EDT); Bechou, Laurent (EDT); Fukuda, Mitsuo (EDT); Mura, Giovanna (EDT)
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Condición: New.
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 130,19
Envío por EUR 3,49Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Condición: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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EUR 131,60
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Condición: New.
Advanced Laser Diode Reliability
Vanzi, Massimo (EDT); Bechou, Laurent (EDT); Fukuda, Mitsuo (EDT); Mura, Giovanna (EDT)
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 132,63
Envío por EUR 17,64Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
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Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino UnidoTHE SAINT BOOKSTORE
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EUR 127,80
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Hardback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
Advanced Laser Diode Reliability
Vanzi, Massimo (EDT); Bechou, Laurent (EDT); Fukuda, Mitsuo (EDT); Mura, Giovanna (EDT)
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 152,83
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Advanced Laser Diode Reliability (Durability, Robustness and Reliability of Photonic Devices)
Vanzi, Massimo; Bechou, Laurent; Fukuda, Mitsuo; Mura, Giovanna
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 142,47
Envío por EUR 14,09Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Advanced Laser Diode Reliability
Vanzi, Massimo (EDT); Bechou, Laurent (EDT); Fukuda, Mitsuo (EDT); Mura, Giovanna (EDT)
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 157,92
Envío por EUR 17,64Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Advanced Laser Diode Reliability
Bechou, Laurent/ Fukuda, Mitsuo/ Mura, Giovanna/ Vanzi, Massimo (Editor)
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. 258 pages. 9.00x6.00x0.75 inches. In Stock. This item is printed on demand.
Idioma: Inglés
Editorial: Elsevier Science & Technology, ISTE Press - Elsevier, 2021
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Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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EUR 114,00
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Advanced Laser Diode Reliability focuses on causes and effects of degradations of state-of-the-art semiconductor laser diodes. It aims to provide a tool for linking practical measurements to physical diagnostics. To this purpose, it review…s the current technologies, addressing their peculiar details that can promote specific failure mechanisms. Two sections will support this kernel: a) Failure Analysis techniques, procedures and examples; b) Device-oriented laser modelling and parameter extraction. Englisch.
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Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino UnidoTHE SAINT BOOKSTORE
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Hardback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
Idioma: Inglés
Editorial: Elsevier Science & Technology, ISTE Press - Elsevier, 2021
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 127,50
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Buch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Advanced Laser Diode Reliability focuses on causes and effects of degradations of state-of-the-art semiconductor laser diodes. It aims to provide a tool for linking practical measurements to physical diagnostics. To this purpose, it reviews the… current technologies, addressing their peculiar details that can promote specific failure mechanisms. Two sections will support this kernel: a) Failure Analysis techniques, procedures and examples; b) Device-oriented laser modelling and parameter extraction.
