Tan sheldon x d (50 resultados)
- Tapa dura
Librería: Better World Books: West, Reno, NV, Estados Unidos de AmericaBetter World Books: West
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
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Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de AmericaSMASS Sellers
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- Edición internacional
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino UnidoUK BOOKS STORE
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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- Tapa blanda
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Condición: New. pp. xviii + 240.
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- Tapa dura
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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Condición: New. pp. xviii + 240 Illus.
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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- Tapa blanda
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EUR 127,24
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa dura
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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EUR 157,52
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Condición: New.
- Tapa blanda
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EUR 161,19
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Condición: New. pp. 308.
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 161,53
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Condición: New. pp. 336.
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 155,84
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- Tapa blanda
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EUR 166,18
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- Tapa dura
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- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Since process variation and chip performance uncertainties have become more pronounced as technologies scale down into the nanometer regime, accurate and efficient modeling or characterization of variations from the device to the architecture level… have become imperative for the successful design of VLSI chips.This book provides readers with tools for variation-aware design methodologies and computer-aided design (CAD) of VLSI systems, in the presence of process variations at the nanometer scale. It presents the latest developments for modeling and analysis, with a focus on statistical interconnect modeling, statistical parasitic extractions, statistical full-chip leakage and dynamic power analysis considering spatial correlations, statistical analysis and modeling for large global interconnects and analog/mixed-signal circuits. Provides readers with timely, systematic and comprehensive treatments of statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks, and analog/mixed-signal circuits;Helps chip designers understand the potential and limitations of their design tools, improving their design productivity;Presents analysis of each algorithm with practical applications in the context of real circuit design;Includes numerical examples for the quantitative analysis and evaluation of algorithms presented. Provides readers with timely, systematic and comprehensive treatments of statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks, and analog/mixed-signal circuits;Helps chip designers understand the potential and limitations of their design tools, improving their design productivity;Presents analysis of each algorithm with practical applications in thecontext of real circuit design;Includes numerical examples for the quantitative analysis and evaluation of algorithms presented.
- Tapa blanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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EUR 136,16
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- Tapa dura
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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EUR 136,16
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- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
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Envío por EUR 105,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 336 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Since process variation and chip performance uncertainties have become more pronounced as technologies scale down into the nanometer regime, accurate and efficient modeling or characterization of variations from the device to…the architecture level have become imperative for the successful design of VLSI chips.This book provides readers with tools for variation-aware design methodologies and computer-aided design (CAD) of VLSI systems, in the presence of process variations at the nanometer scale. It presents the latest developments for modeling and analysis, with a focus on statistical interconnect modeling, statistical parasitic extractions, statistical full-chip leakage and dynamic power analysis considering spatial correlations, statistical analysis and modeling for large global interconnects and analog/mixed-signal circuits. Provides readers with timely, systematic and comprehensive treatments of statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks, and analog/mixed-signal circuits;Helps chip designers understand the potential and limitations of their design tools, improving their design productivity;Presents analysis of each algorithm with practical applications in the context of real circuit design;Includes numerical examples for the quantitative analysis and evaluation of algorithms presented. Provides readers with timely, systematic and comprehensive treatments of statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks, and analog/mixed-signal circuits;Helps chip designers understand the potential and limitations of their design tools, improving their design productivity;Presents analysis of each algorithm with practical applications in thecontext of real circuit design;Includes numerical examples for the quantitative analysis and evaluation of algorithms presented.
- Tapa blanda
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Condición: New. pp. 300.
