Stølen ketil (94 resultados)
- Tapa blanda
Librería: Funky Fox Books, HARLINGEN, TX, Estados Unidos de AmericaFunky Fox Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Aceptable
EUR 22,20
Envío por EUR 5,17Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Soft cover. Condición: Good. Softcover, 8vo., 146pp. Ex-Lib, with usual faults, otherwise a clean, tight copy.
Risk Assessment and Risk-driven Testing : First International Workshop, Risk 2013, Held in Conjunction With Ictss 2013, Istanbul, Turkey, November 12, 2013. Revised Selected Papers
Bauer, Thomas (EDT); Großmann, Jürgen (EDT); Seehusen, Fredrik (EDT); Stølen, Ketil (EDT); Wendland, Marc-florian (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 42,33
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2001
- Tapa dura
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 48,76
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
Technology Research Explained: Design of Software, Architectures, Methods, and Technology in General
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 36,42
Envío por EUR 13,17Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.
Risk Assessment and Risk-driven Testing : First International Workshop, Risk 2013, Held in Conjunction With Ictss 2013, Istanbul, Turkey, November 12, 2013. Revised Selected Papers
Bauer, Thomas (EDT); Großmann, Jürgen (EDT); Seehusen, Fredrik (EDT); Stølen, Ketil (EDT); Wendland, Marc-florian (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 50,08
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Technology Research Explained: Design of Software, Architectures, Methods, and Technology in General
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 50,95
Envío por EUR 3,44Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. 1st ed. 2023 edition NO-PA16APR2015-KAP.
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 55,29
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Technology Research Explained: Design of Software, Architectures, Methods, and Technology in General
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 47,54
Envío por EUR 11,66Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Paperback. Condición: Brand New. 194 pages. 9.25x6.10x0.42 inches. In Stock.
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 46,96
Envío por EUR 13,17Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Risk Assessment and Risk-Driven Testing: First International Workshop, RISK 2013, Held in Conjunction with ICTSS 2013, Istanbul, Turkey, November 12, . Papers (Lecture Notes in Computer Science)
Thomas Bauer, J�rgen Gro�mann, Fredrik Seehusen, Ketil Stolen, Marc-Florian Wendland
- Tapa blanda
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 44,38
Envío por EUR 18,06Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Paperback. Condición: New.
Trust Management : 4th International Conference, iTrust 2006, Pisa, Italy, May 16-19, 2006, Proceedings
Stølen, Ketil (EDT); Winsborough, William H. (EDT); Martinelli, Fabio (EDT); Massacci, Fabio (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 62,19
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2001
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 62,19
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Risk Assessment and Risk-driven Testing : First International Workshop, Risk 2013, Held in Conjunction With Ictss 2013, Istanbul, Turkey, November 12, 2013. Revised Selected Papers
Bauer, Thomas (EDT); Großmann, Jürgen (EDT); Seehusen, Fredrik (EDT); Stølen, Ketil (EDT); Wendland, Marc-florian (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 46,95
Envío por EUR 17,49Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 52,41
Envío por EUR 13,17Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
- Tapa blanda
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 48,22
Envío por EUR 18,06Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
PF. Condición: New.
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 63,57
Envío por EUR 3,44Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 148.
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 65,92
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Technology Research Explained: Design of Software, Architectures, Methods, and Technology in General
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 54,87
Envío por EUR 13,17Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 51,20
Envío por EUR 17,49Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 66,31
Envío por EUR 3,44Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. 1st ed. 2018 edition NO-PA16APR2015-KAP.
Risk Assessment and Risk-driven Testing : First International Workshop, Risk 2013, Held in Conjunction With Ictss 2013, Istanbul, Turkey, November 12, 2013. Revised Selected Papers
Bauer, Thomas (EDT); Großmann, Jürgen (EDT); Seehusen, Fredrik (EDT); Stølen, Ketil (EDT); Wendland, Marc-florian (EDT)
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 53,20
Envío por EUR 17,49Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 61,01
Envío por EUR 13,17Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2001
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 61,01
Envío por EUR 13,17Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 61,01
Envío por EUR 13,17Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 61,01
Envío por EUR 13,17Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 61,01
Envío por EUR 13,17Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 62,92
Envío por EUR 11,66Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Paperback. Condición: Brand New. 2014 edition. 148 pages. 9.25x6.10x0.40 inches. In Stock.
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 57,20
Envío por EUR 17,49Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2001-04-27, 2001
- Tapa blanda
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 57,42
Envío por EUR 18,06Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Paperback. Condición: New.
Trust Management: 4th International Conference, iTrust 2006, Pisa, Italy, May 16-19, 2006, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Winsborough Martinelli, Fabio Massacci, Ketil St��len, William H.
- Tapa blanda
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 57,56
Envío por EUR 18,06Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Paperback. Condición: New.
