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The Case Files of P.I. Pojo: The Killing of Mr. Heathcote
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 5,39
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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The Case Files of P.I. Pojo: The Killing of Mr. Heathcote
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 10,60
Envío por EUR 3,42
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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P.I. Pojo
Idioma: Inglés
Publicado por Penguin Random House India Pvt. Ltd, 2015
ISBN 10: 0143333453 ISBN 13: 9780143333456
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 15,48
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The Case Files of P.I. Pojo: The Killing of Mr. Heathcote
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 5,99
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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P.I. Pojo
Idioma: Inglés
Publicado por Penguin Random House India, 2015
ISBN 10: 0143333453 ISBN 13: 9780143333456
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 16,48
Envío por EUR 3,80
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoPAP. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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P.I. Pojo: The Killing of Mr Heathcote
Idioma: Inglés
Publicado por Penguin Books India Pvt Ltd, 2015
ISBN 10: 0143333453 ISBN 13: 9780143333456
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 17,22
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Añadir al carritoPaperback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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P.I. Pojo: The Killing of MR Heathcote
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 19,82
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Añadir al carritoCondición: New. Über den AutorThe author of this work would love to set up an NGO to err . . . Save The Words. To donate, you need to adopt a word and promise to cherish it. The NGO will be called Grunt. Other than this the author would like to sta.
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P.I. Pojo : The Killing of MR Heathcote
Idioma: Inglés
Publicado por Penguin Random House India Pvt. Ltd Jan 2015, 2015
ISBN 10: 0143333453 ISBN 13: 9780143333456
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 25,93
Envío por EUR 65,00
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware - 'Something smells fishy here and I don't mean Mr H's uneaten dinner.'.
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (Integrated Circuits and Systems)
Libro 24 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 96,26
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Añadir al carritoCondición: very_good. Supports Goodwill of Silicon Valley job training programs. The cover and pages are in very good condition! The cover and any other included accessories are also in very good condition showing some minor use. The spine is straight, there are no rips tears or creases on the cover or the pages.
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (Integrated Circuits and Systems)
Libro 24 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Patrico Books, Apollo Beach, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 97,15
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Añadir al carritohardcover. Condición: As New. Ships Out Tomorrow!
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (Integrated Circuits and Systems)
Libro 24 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Blue Vase Books, Interlochen, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 111,63
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Añadir al carritoCondición: very_good. Book has little sign of wear or use.
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (Integrated Circuits and Systems)
Libro 24 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: HPB-Emerald, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 108,49
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,14
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 128,26
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 212.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 131,92
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 212 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 141,56
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 133,50
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 212.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 150,71
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 2009 edition. 210 pages. 9.25x6.10x0.48 inches. In Stock.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,15
Envío por EUR 70,00
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits | Amith Singhee (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Electrical Engineering | xv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9789400736870 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 163,83
Envío por EUR 13,82
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (Integrated Circuits and Systems)
Libro 24 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 163,83
Envío por EUR 13,82
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (Integrated Circuits and Systems)
Libro 24 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 163,83
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,77
Envío por EUR 61,65
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - As VLSI technology moves to the nanometer scale for transistor feature sizes, the impact of manufacturing imperfections result in large variations in the circuit performance. Traditional CAD tools are not well-equipped to handle this scenario, since they do not model this statistical nature of the circuit parameters and performances, or if they do, the existing techniques tend to be over-simplified or intractably slow. Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits draws upon ideas for attacking parallel problems in other technical fields, such as computational finance, machine learning and actuarial risk, and synthesizes them with innovative attacks for the problem domain of integrated circuits. The result is a set of novel solutions to problems of efficient statistical analysis of circuits in the nanometer regime.
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
Libro 24 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 205,59
Envío por EUR 3,42
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 258.
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
Libro 24 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 208,05
Envío por EUR 3,42
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 258.
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Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits (Lecture Notes in Electrical Engineering, 46)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 184,21
Envío por EUR 28,85
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
Libro 24 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 140,00
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design | Rob A. Rutenbar (u. a.) | Taschenbuch | x | Englisch | 2012 | Springer US | EAN 9781461426721 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
Libro 24 de 34: Integrated Circuits and SystemsIdioma: Inglés
Publicado por Springer US, Springer US, 2012
ISBN 10: 1461426723 ISBN 13: 9781461426721
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 167,14
Envío por EUR 61,97
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Knowledge exists: you only have to nd it VLSI design has come to an important in ection point with the appearance of large manufacturing variations as semiconductor technology has moved to 45 nm feature sizes and below. If we ignore the random variations in the manufacturing process, simulation-based design essentially becomes useless, since its predictions will be far from the reality of manufactured ICs. On the other hand, using design margins based on some traditional notion of worst-case scenarios can force us to sacri ce too much in terms of power consumption or manufacturing cost, to the extent of making the design goals even infeasible. We absolutely need to explicitly account for the statistics of this random variability, to have design margins that are accurate so that we can nd the optimum balance between yield loss and design cost. This discontinuity in design processes has led many researchers to develop effective methods of statistical design, where the designer can simulate not just the behavior of the nominal design, but the expected statistics of the behavior in manufactured ICs. Memory circuits tend to be the hardest hit by the problem of these random variations because of their high replication count on any single chip, which demands a very high statistical quality from the product. Requirements of 5-6s (0.
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
Libro 24 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 168,73
Envío por EUR 62,66
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Knowledge exists: you only have to nd it VLSI design has come to an important in ection point with the appearance of large manufacturing variations as semiconductor technology has moved to 45 nm feature sizes and below. If we ignore the random variations in the manufacturing process, simulation-based design essentially becomes useless, since its predictions will be far from the reality of manufactured ICs. On the other hand, using design margins based on some traditional notion of worst-case scenarios can force us to sacri ce too much in terms of power consumption or manufacturing cost, to the extent of making the design goals even infeasible. We absolutely need to explicitly account for the statistics of this random variability, to have design margins that are accurate so that we can nd the optimum balance between yield loss and design cost. This discontinuity in design processes has led many researchers to develop effective methods of statistical design, where the designer can simulate not just the behavior of the nominal design, but the expected statistics of the behavior in manufactured ICs. Memory circuits tend to be the hardest hit by the problem of these random variations because of their high replication count on any single chip, which demands a very high statistical quality from the product. Requirements of 5-6s (0.
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Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design (Integrated Circuits and Systems)
Libro 24 de 34: Integrated Circuits and SystemsLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 234,13
Envío por EUR 28,85
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
