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Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2013
ISBN 10: 3642420230 ISBN 13: 9783642420238
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. VLSI Design and Test | 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings | Manoj Singh Gaur (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9783642420238 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Publicado por Springer Berlin Heidelberg Dez 2013, 2013
ISBN 10: 3642420230 ISBN 13: 9783642420238
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Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2013
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss.
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Publicado por Springer, Springer Dez 2013, 2013
ISBN 10: 3642420230 ISBN 13: 9783642420238
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 404 pp. Englisch.