Schrimpf ronald (33 resultados)
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good+. No Dust Jacket. Hardcover; no dustjacket, as issued. This is a printed Masters thesis published at the University of Minnesota in 1984. Bound in black buckram. The binding is clean. Pages clean. B&W illustrations. ; 27D; 11" x 8-1/2"; 95 pages.
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good+. No Dust Jacket. Hardcover; no dustjacket, as issued. This is a printed PHD thesis published at the University of Minnesota in 1986. Bound in black buckram. Signed by the author on the front flyleaf; as"Ron", and inscribed to one of his professors (who is also mentioned first in the acknowledgeme…nts. The binding is very clean. Pages clean. B&W illustrations. This is a fairly heavy book; Priority and/or International may require shipping over and above standard costs. ; 27D; 11" x 8-1/2"; 134 pages; Signed by Author.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Fleetwood, Daniel M. (EDT); Pantelides, Sokrates T. (EDT); Schrimpf, Ronald Donald (EDT)
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Fleetwood, Daniel M. (EDT); Pantelides, Sokrates T. (EDT); Schrimpf, Ronald Donald (EDT)
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Fleetwood, Daniel M. (EDT); Pantelides, Sokrates T. (EDT); Schrimpf, Ronald Donald (EDT)
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Fleetwood, Daniel M. (EDT); Pantelides, Sokrates T. (EDT); Schrimpf, Ronald Donald (EDT)
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Condición: New. Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. SchrimpfUncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers.
Defects in Microelectronic Materials And Devices
Fleetwood, Daniel/ Pantolides, Sokrates/ Schrimpf, Ronald D.
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Buch. Condición: Neu. Neuware - Focusing primarily on silicon-based microelectronics, Defects in Microelectronic Materials and Devices provides a comprehensive overview of recent progress made in understanding the effects of electrically active defects in microelectronic materials. The book places particular emphasis on defects…that limit device quality, reliability, manufacturability, and radiation response. Notable theorists and researchers present their perspectives on defects in insulators and in semiconductors as well as hydrogen and defect-related failure mechanisms. The text also discusses compound semiconductor materials for microelectronic applications and examines new information garnered from physics and engineering models.
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