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A Feasibility Study of Devices for Three-Dimensional Integrated Circuits: A Thesis Submitted to the Faculty of the Graduate School of the University of Minnesota
Año de publicación: 1984
Librería: Crossroad Books, Eau Claire, WI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 31,47
Envío por EUR 4,73
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good+. Estado de la sobrecubierta: No Dust Jacket. Hardcover; no dustjacket, as issued. This is a printed Masters thesis published at the University of Minnesota in 1984. Bound in black buckram. The binding is clean. Pages clean. B&W illustrations. ; 27D; 11" x 8-1/2"; 95 pages.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 86,42
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 91,72
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 90,53
Envío por EUR 3,43
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 76,47
Envío por EUR 17,36
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Prototype-Device Fabrication and Modeling for All-Semiconductor Three-Dimensional Integrated Circuits: A Thesis Submitted to the Faculty of the Graduate School of the University of Minnesota
Año de publicación: 1986
Librería: Crossroad Books, Eau Claire, WI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Ejemplar firmado
EUR 37,67
Envío por EUR 4,73
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good+. Estado de la sobrecubierta: No Dust Jacket. Hardcover; no dustjacket, as issued. This is a printed PHD thesis published at the University of Minnesota in 1986. Bound in black buckram. Signed by the author on the front flyleaf; as"Ron", and inscribed to one of his professors (who is also mentioned first in the acknowledgements. The binding is very clean. Pages clean. B&W illustrations. This is a fairly heavy book; Priority and/or International may require shipping over and above standard costs. ; 27D; 11" x 8-1/2"; 134 pages; Signed by Author.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 91,65
Envío por EUR 7,52
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 87,90
Envío por EUR 14,86
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 88,16
Envío por EUR 17,36
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 93,91
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 110,77
Envío por EUR 3,43
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,78
Envío por EUR 13,87
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 115,14
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 142,12
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 770 pages. 10.00x7.00x1.75 inches. In Stock.
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,89
Envío por EUR 6,80
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoHRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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RADIATION EFFECTS AND SOFT ERRORS IN INTEGRATED CIRCUITS AND ELECTRONIC DEVICES (Selected Topics in Electronics and Systems)
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Company, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 202,27
Envío por EUR 5,98
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 227,77
Envío por EUR 9,83
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 236,54
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 238,89
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 227,76
Envío por EUR 17,36
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 258,73
Envío por EUR 17,36
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Radiation Effects And Soft Errors In Integrated Circuits And Electronic Devices
Idioma: Inglés
Publicado por World Scientific Publishing Co Pte Ltd, SG, 2004
ISBN 10: 9812389407 ISBN 13: 9789812389404
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 200,66
Envío por EUR 75,24
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 249,20
Envío por EUR 28,94
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 284,09
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 239,03
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. SchrimpfUncover the Defects that Compromise Performance and ReliabilityAs microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2008
ISBN 10: 1420043765 ISBN 13: 9781420043761
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 296,14
Envío por EUR 3,43
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 770.
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Defects in Microelectronic Materials And Devices
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 283,53
Envío por EUR 23,15
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 792 pages. 10.00x7.10x1.50 inches. In Stock.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 2008
ISBN 10: 1420043765 ISBN 13: 9781420043761
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 302,63
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 770.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Inc Nov 2008, 2008
ISBN 10: 1420043765 ISBN 13: 9781420043761
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 296,71
Envío por EUR 67,60
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - Focusing primarily on silicon-based microelectronics, Defects in Microelectronic Materials and Devices provides a comprehensive overview of recent progress made in understanding the effects of electrically active defects in microelectronic materials. The book places particular emphasis on defects that limit device quality, reliability, manufacturability, and radiation response. Notable theorists and researchers present their perspectives on defects in insulators and in semiconductors as well as hydrogen and defect-related failure mechanisms. The text also discusses compound semiconductor materials for microelectronic applications and examines new information garnered from physics and engineering models.
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Defects in Microelectronic Materials and Devices
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 76,48
Envío por EUR 18,23
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
