Quinto eric todd (76 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Cham, Springer., 2019
Serie: Libro 318 de 548 - Lecture Notes in Electrical Engineering
- Tapa dura
Librería: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, AlemaniaUniversitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado
EUR 25,00
Envío por EUR 30,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
XII, 430 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Lecture Notes in Electrical Engineering. Volume 506. Sprache: Englisch.
Computed Tomography
Andersen, Martin S.;batenburg, K. Joost;dong, Yiqiu;quinto, Eric Todd;sijbers, Jan
Idioma: Inglés
Editorial: SIAM - Society for Industrial and Applied Mathematics, 2021
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 83,06
Envío por EUR 2,29Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 7 disponibles
Condición: New.
INTEGRAL GEOMETRY AND TOMOGRAPHY; Proceedings
Society, American Mathematical & Eric Todd Quinto & Joint Summer Research Conference On Multivariable Operator Theory & Eric Grinberg & Society For Industrial and Applied Mathematics & Institute Of Mathematical Statistics
- Tapa blanda
Librería: AVON HILL BOOKS, Cambridge, MA, Estados Unidos de AmericaAVON HILL BOOKS
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasMiembro de asociación: SNEAB
Condición: Usado - Muy bueno
EUR 89,31
Envío por EUR 3,03Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Softcover. Condición: Near Fine. tall 8vo 9" - 10" tall; 249 pages; Contemporary Mathematics.
Computed Tomography
Andersen, Martin S.;batenburg, K. Joost;dong, Yiqiu;quinto, Eric Todd;sijbers, Jan
Idioma: Inglés
Editorial: SIAM - Society for Industrial and Applied Mathematics, 2021
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 93,36
Envío por EUR 2,29Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 7 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Computed Tomography
Andersen, Martin S.;batenburg, K. Joost;dong, Yiqiu;quinto, Eric Todd;sijbers, Jan
Idioma: Inglés
Editorial: SIAM - Society for Industrial and Applied Mathematics, 2021
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 80,12
Envío por EUR 17,50Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 7 disponibles
Condición: New.
Computed Tomography Algorithms, Insight, and Just Enough Theory
Andersen, Martin S. Batenburg, K. Joost Dong, Yiqiu Quinto, Eric Todd Sijbers, Jan
Idioma: Inglés
Editorial: Society For Industrial & Applied Mathematics,U.S., 2021
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 93,21
Envío por EUR 14,58Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Paperback / Softback. Condición: Brand New. 277 pages. 10.08x6.97x0.87 inches. In Stock.
Computed Tomography
Andersen, Martin S.;batenburg, K. Joost;dong, Yiqiu;quinto, Eric Todd;sijbers, Jan
Idioma: Inglés
Editorial: SIAM - Society for Industrial and Applied Mathematics, 2021
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 95,85
Envío por EUR 17,50Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 7 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa dura
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino UnidoPBShop.store UK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 114,40
Envío por EUR 5,86Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
- Tapa dura
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 116,16
Envío por EUR 11,66Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Hardcover. Condición: Brand New. illustrated edition. 158 pages. 10.25x7.25x0.50 inches. In Stock.
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 115,99
Envío por EUR 9,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: New. Based on the lectures in the Short Course The Radon Transform and Applications to Inverse Problems at the American Mathematical Society meeting in Atlanta, GA, January 3-4, 2005. This book brings together articles on mathematical aspects of tomography and related inverse problems. Editor(s): Olafsson, Gestur; Qui…nto, Eric Todd. Series: Proceedings of Symposia in Applied Mathematics. Num Pages: 158 pages, illustrations. BIC Classification: PBKS; UYA. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 185 x 257 x 15. Weight in Grams: 488. . 2006. Hardcover. . . . .
- Tapa dura
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino UnidoRarewaves.com USA
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 143,48
Gastos de envío gratisSe envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardback. Condición: New. illustrated Edition. Since their emergence in 1917, tomography and inverse problems remain active and important fields that combine pure and applied mathematics and provide strong interplay between diverse mathematical problems and applications. The applied side is best known for medical and scientific…use, in particular, medical imaging, radiotherapy, and industrial non-destructive testing. Doctors use tomography to see the internal structure of the body or to find functional information, such as metabolic processes, noninvasively. Scientists discover defects in objects, the topography of the ocean floor, and geological information using X-rays, geophysical measurements, sonar, or other data.This volume, based on the lectures in the Short Course The Radon Transform and Applications to Inverse Problems at the American Mathematical Society meeting in Atlanta, GA, January 3-4, 2005, brings together articles on mathematical aspects of tomography and related inverse problems. The articles cover introductory material, theoretical problems, and practical issues in 3-D tomography, impedance imaging, local tomography, wavelet methods, regularization and approximate inverse, sampling, and emission tomography. All contributions are written for a general audience, and the authors have included references for further reading.
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 142,83
Envío por EUR 9,10Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: New. Based on the lectures in the Short Course The Radon Transform and Applications to Inverse Problems at the American Mathematical Society meeting in Atlanta, GA, January 3-4, 2005. This book brings together articles on mathematical aspects of tomography and related inverse problems. Editor(s): Olafsson, Gestur; Qui…nto, Eric Todd. Series: Proceedings of Symposia in Applied Mathematics. Num Pages: 158 pages, illustrations. BIC Classification: PBKS; UYA. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 185 x 257 x 15. Weight in Grams: 488. . 2006. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
- Tapa dura
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino UnidoTHE SAINT BOOKSTORE
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 145,07
Envío por EUR 18,64Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Hardback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 21 de 342 - Lecture Notes in Electrical Engineering
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 165,60
Envío por EUR 13,97Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
Serie: Libro 21 de 342 - Lecture Notes in Electrical Engineering
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 165,60
Envío por EUR 13,97Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Microlocal Analysis and Inverse Problems in Tomography and Geometry
Quinto, Eric Todd (EDT); Stefanov, Plamen D. (EDT); Uhlmann, Gunther (EDT)
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 188,38
Envío por EUR 2,29Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Microlocal Analysis and Inverse Problems in Tomography and Geometry
Quinto, Eric Todd (EDT); Stefanov, Plamen D. (EDT); Uhlmann, Gunther (EDT)
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 189,36
Envío por EUR 2,29Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
- Tapa dura
Librería: Rarewaves USA, OSWEGO, IL, Estados Unidos de AmericaRarewaves USA
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 191,73
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Hardback. Condición: New. Microlocal Analysis has proven to be a powerful tool for analyzing and solving inverse problems; including answering questions about stability, uniqueness, recovery of singularities, etc. This volume, presents several studies on microlocal methods in problems in tomography, integral geometry, geodesic t…ransforms, travel time tomography, thermoacoustic tomography, Compton CT, cosmology, nonlinear inverse problems, and others.
- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Excelente
EUR 81,35
Envío por EUR 105,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
Microlocal Analysis and Inverse Problems in Tomography and Geometry
Quinto, Eric Todd (EDT); Stefanov, Plamen D. (EDT); Uhlmann, Gunther (EDT)
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 185,12
Envío por EUR 17,50Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
Serie: Libro 21 de 342 - Lecture Notes in Electrical Engineering
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 201,28
Envío por EUR 3,46Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. 1st ed. 2019 edition NO-PA16APR2015-KAP.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
Serie: Libro 21 de 342 - Lecture Notes in Electrical Engineering
- Tapa blanda
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 196,32
Envío por EUR 9,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 21 de 342 - Lecture Notes in Electrical Engineering
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 196,74
Envío por EUR 9,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
Microlocal Analysis and Inverse Problems in Tomography and Geometry
Quinto, Eric Todd (EDT); Stefanov, Plamen D. (EDT); Uhlmann, Gunther (EDT)
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 195,00
Envío por EUR 17,50Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
Serie: Libro 21 de 342 - Lecture Notes in Electrical Engineering
- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 140,10
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. The Proceedings of the International Conference on Sensing and Imaging, 2018 | Eric Todd Quinto (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Electrical Engineering | x | Englisch | 2021 | Springer | EAN 9783030308278 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heid…elberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 21 de 342 - Lecture Notes in Electrical Engineering
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 210,57
Envío por EUR 3,46Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. X, 223 126 illus., 92 illus. in color. 1st ed. 2019 edition NO-PA16APR2015-KAP.
- Tapa dura
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino UnidoRarewaves.com UK
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 135,58
Envío por EUR 75,81Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardback. Condición: New. illustrated Edition. Since their emergence in 1917, tomography and inverse problems remain active and important fields that combine pure and applied mathematics and provide strong interplay between diverse mathematical problems and applications. The applied side is best known for medical and scientific…use, in particular, medical imaging, radiotherapy, and industrial non-destructive testing. Doctors use tomography to see the internal structure of the body or to find functional information, such as metabolic processes, noninvasively. Scientists discover defects in objects, the topography of the ocean floor, and geological information using X-rays, geophysical measurements, sonar, or other data.This volume, based on the lectures in the Short Course The Radon Transform and Applications to Inverse Problems at the American Mathematical Society meeting in Atlanta, GA, January 3-4, 2005, brings together articles on mathematical aspects of tomography and related inverse problems. The articles cover introductory material, theoretical problems, and practical issues in 3-D tomography, impedance imaging, local tomography, wavelet methods, regularization and approximate inverse, sampling, and emission tomography. All contributions are written for a general audience, and the authors have included references for further reading.
- Tapa dura
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 159,95
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. The series is devoted to the publication of high-level monographs, surveys and proceedings which cover the whole spectrum of computational and applied mathematics. The books of this series are addressed to both specialists and advanced students. .
Idioma: Inglés
Editorial: Springer International Publishing, 2021
Serie: Libro 21 de 342 - Lecture Notes in Electrical Engineering
- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 160,49
Envío por EUR 61,83Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book proceedings collects a number of papers presented at the International Conference on Sensing and Imaging, which was held at Guangxi University of Science and Technology from October 15-18, 2018.Sensing and imaging is an interdisciplinary…field covering a variety of sciences and techniques such as optics, electricity, magnetism, heat, sound, and computing technologies. The field has diverse applications of interest such as image processing techniques.The results in the book bridge the gap between theory and applications, translating techniques into better products. The text will appeal to students, professionals and researchers alike.
- Tapa dura
Librería: Rarewaves USA United, OSWEGO, IL, Estados Unidos de AmericaRarewaves USA United
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 185,13
Envío por EUR 43,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Hardback. Condición: New. Microlocal Analysis has proven to be a powerful tool for analyzing and solving inverse problems; including answering questions about stability, uniqueness, recovery of singularities, etc. This volume, presents several studies on microlocal methods in problems in tomography, integral geometry, geodesic t…ransforms, travel time tomography, thermoacoustic tomography, Compton CT, cosmology, nonlinear inverse problems, and others.
