Quinto eric todd edt (10 resultados)
Proceedings of the International Conference on Sensing and Imaging, 2018
Quinto, Eric Todd (EDT); Ida, Nathan (EDT); Jiang, Ming (EDT); Louis, Alfred K. (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 21 de 342 - Lecture Notes in Electrical Engineering
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Condición: New.
Proceedings of the International Conference on Sensing and Imaging, 2018
Quinto, Eric Todd (EDT); Ida, Nathan (EDT); Jiang, Ming (EDT); Louis, Alfred K. (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
Serie: Libro 21 de 342 - Lecture Notes in Electrical Engineering
- Tapa blanda
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EUR 192,43
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Proceedings of the International Conference on Sensing and Imaging, 2018
Quinto, Eric Todd (EDT); Ida, Nathan (EDT); Jiang, Ming (EDT); Louis, Alfred K. (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2021
Serie: Libro 21 de 342 - Lecture Notes in Electrical Engineering
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 192,97
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Proceedings of the International Conference on Sensing and Imaging, 2018
Quinto, Eric Todd (EDT); Ida, Nathan (EDT); Jiang, Ming (EDT); Louis, Alfred K. (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Libro 21 de 342 - Lecture Notes in Electrical Engineering
- Tapa dura
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Microlocal Analysis and Inverse Problems in Tomography and Geometry
Quinto, Eric Todd (EDT); Stefanov, Plamen D. (EDT); Uhlmann, Gunther (EDT)
- Tapa dura
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EUR 194,52
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Microlocal Analysis and Inverse Problems in Tomography and Geometry
Quinto, Eric Todd (EDT); Stefanov, Plamen D. (EDT); Uhlmann, Gunther (EDT)
- Tapa dura
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EUR 195,53
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Condición: New.
Microlocal Analysis and Inverse Problems in Tomography and Geometry
Quinto, Eric Todd (EDT); Stefanov, Plamen D. (EDT); Uhlmann, Gunther (EDT)
- Tapa dura
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EUR 189,28
Envío por EUR 17,93Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Microlocal Analysis and Inverse Problems in Tomography and Geometry
Quinto, Eric Todd (EDT); Stefanov, Plamen D. (EDT); Uhlmann, Gunther (EDT)
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 200,07
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Proceedings of the International Conference on Sensing and Imaging : Chengdu University of Information Technology, Chengdu, Sichuan, China, on June 5-7, 2017
Jiang, Ming (EDT); Ida, Nathan (EDT); Louis, Alfred K. (EDT); Quinto, Eric Todd (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
Serie: Libro 318 de 548 - Lecture Notes in Electrical Engineering
- Tapa dura
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EUR 240,21
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Condición: New.
Proceedings of the International Conference on Sensing and Imaging : Chengdu University of Information Technology, Chengdu, Sichuan, China, on June 5-7, 2017
Jiang, Ming (EDT); Ida, Nathan (EDT); Louis, Alfred K. (EDT); Quinto, Eric Todd (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
Serie: Libro 318 de 548 - Lecture Notes in Electrical Engineering
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 252,05
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
