Nicolaidis michael (52 resultados)
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Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1998
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Condición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has soft covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,500grams, ISBN:9781441950338.
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1998
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Condición: New. In.
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
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EUR 144,11
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
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Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Publishers, 1998
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Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 134,16
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Condición: New. Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, and more) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. This book contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing. Editor(s): Nicola…idis, Michael; Zorian, Yervant; Pradhan, Dhiraj K. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 164 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 264 x 187 x 16. Weight in Grams: 520. . 1998. Reprinted from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Hardback. . . . .
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 144,35
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Condición: New. pp. 164.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1998
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EUR 144,44
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Condición: New. pp. 168.
On Line-Testing for VLSI
Nicolaidis, Michael (Edited by)/ Zorian, Yervant (Edited by)/ Pradhan, Dhiraj K. (Edited by)
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 152,92
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Paperback. Condición: Brand New. 164 pages. 11.00x8.25x0.37 inches. In Stock.
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Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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EUR 95,25
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Taschenbuch. Condición: Neu. On-Line Testing for VLSI | Michael Nicolaidis (u. a.) | Taschenbuch | Frontiers in Electronic Testing | iv | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9781441950338 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbiet…er: preigu.
Idioma: Inglés
Editorial: Kluwer Academic Publishers, 1998
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Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
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EUR 168,04
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Condición: New. Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, and more) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. This book contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing. Editor(s): Nicola…idis, Michael; Zorian, Yervant; Pradhan, Dhiraj K. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 164 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 264 x 187 x 16. Weight in Grams: 520. . 1998. Reprinted from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 112,77
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of… concurrent error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 166,16
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Springer, 1998
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 114,36
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of concur…rent error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, 1998
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Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
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EUR 78,55
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Condición: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of concurren…t error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
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Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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EUR 189,16
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Condición: New.
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 192,85
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1998
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 183,22
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Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 183,22
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Paperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 216,49
Envío por EUR 2,29Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
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Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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EUR 149,05
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Soft Errors in Modern Electronic Systems | Michael Nicolaidis | Taschenbuch | Frontiers in Electronic Testing | xviii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461426899 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]c…om | Anbieter: preigu.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 225,32
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Condición: New. pp. 336.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 171,19
Envío por EUR 62,56Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a comprehensive presentation of the most advanced research results and technological developments enabling understanding, qualifying and mitigating the soft errors effect in advanced electronics, including the fundamental physica…l mechanisms of radiation induced soft errors, the various steps that lead to a system failure, the modelling and simulation of soft error at various levels (including physical, electrical, netlist, event driven, RTL, and system level modelling and simulation), hardware fault injection, accelerated radiation testing and natural environment testing, soft error oriented test structures, process-level, device-level, cell-level, circuit-level, architectural-level, software level and system level soft error mitigation techniques. The book contains a comprehensive presentation of most recent advances on understanding, qualifying and mitigating the soft error effect in advanced electronic systems, presented by academia and industry expertsin reliability, fault tolerance, EDA, processor, SoC and system design, and in particular, experts from industries that have faced the soft error impact in terms of product reliability and related business issues and were in the forefront of the countermeasures taken by these companies at multiple levels in order to mitigate the soft error effects at a cost acceptable for commercial products. In a fast moving field, where the impact on ground level electronics is very recent and its severity is steadily increasing at each new process node, impacting one after another various industry sectors (as an example, the Automotive Electronics Council comes to publish qualification requirements on soft errors), research and technology developments and industrial practices have evolve very fast, outdating the most recent books edited at 2004.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Us, 2010
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 179,61
Envío por EUR 63,24Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a comprehensive presentation of the most advanced research results and technological developments enabling understanding, qualifying and mitigating the soft errors effect in advanced electronics, including the fundamental physical mecha…nisms of radiation induced soft errors, the various steps that lead to a system failure, the modelling and simulation of soft error at various levels (including physical, electrical, netlist, event driven, RTL, and system level modelling and simulation), hardware fault injection, accelerated radiation testing and natural environment testing, soft error oriented test structures, process-level, device-level, cell-level, circuit-level, architectural-level, software level and system level soft error mitigation techniques. The book contains a comprehensive presentation of most recent advances on understanding, qualifying and mitigating the soft error effect in advanced electronic systems, presented by academia and industry expertsin reliability, fault tolerance, EDA, processor, SoC and system design, and in particular, experts from industries that have faced the soft error impact in terms of product reliability and related business issues and were in the forefront of the countermeasures taken by these companies at multiple levels in order to mitigate the soft error effects at a cost acceptable for commercial products. In a fast moving field, where the impact on ground level electronics is very recent and its severity is steadily increasing at each new process node, impacting one after another various industry sectors (as an example, the Automotive Electronics Council comes to publish qualification requirements on soft errors), research and technology developments and industrial practices have evolve very fast, outdating the most recent books edited at 2004.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Verlag, 2010
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 249,05
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Hardcover. Condición: Brand New. 316 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 285,21
Envío por EUR 14,63Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Paperback. Condición: Brand New. 336 pages. 9.25x6.10x0.76 inches. In Stock.
