Naina narang (4 resultados)
- Tapa blanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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EUR 5,78
Envío por EUR 7,61Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 110.
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer Singapore, 2017
Serie: Libro 19 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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EUR 48,37
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
LabVIEW based Automation Guide for Microwave Measurements
Dubey, Satya Kesh (Author)/ Narang, Naina (Author)/ Negi, P. S. (Author)/ Ojha, V. N. (Author)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 19 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 90,83
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Paperback. Condición: Brand New. 60 pages. 9.25x6.10x0.20 inches. In Stock.
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2017
Serie: Libro 19 de 21 - SpringerBriefs in Computational Electromagnetics
- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 53,49
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The book is focused on measurement automation, specifically using the LabView tool. It explains basic measurements in a simplified manner with appropriate step-by-step explanations and discussions of instrument capabilities. It touches upon aspects… of measurement science, microwave measurements and software development for measurement. The book can be used as a guide by technicians, researchers and scientists involved in metrology laboratories to automate measurements. The book explains the development process for automation of measurement systems for every step of the software development lifecycle. It covers system design and automation policy creation. The book uses a top-down approach which enables the reader to relate their own problems and develop a system with their own analysis. The book includes many examples, illustrations, flowcharts, measurement results and screenshots of a worked-out automation software for microwave measurement. The book includes discussions on microwave measurements-attenuation, microwave power and E-field strength. The contents of this book will be of interest to students, researchers and scientists working in the field of electromagnetism, antennas, communication and electromagnetic interference/electromagnetic compatibility (EMI/EMC).
