M j ashok (111 resultados)
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Condición: New. pp. 104.
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Condición: New. pp. 104.
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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Condición: New. pp. 104.
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Soft cover. Condición: New. ISBN:9788178063416,169pp.
Idioma: Inglés
Editorial: Jaypee Brothers Medical Publishers (P) Ltd., 2010
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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Condición: New. pp. 288.
Idioma: Inglés
Editorial: Jaypee Brothers Medical Publishers (P) Ltd., 2010
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EUR 20,95
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Condición: New. pp. 288 1st Edition.
Editorial: Pustak Mahal
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EUR 4,60
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 36,15
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Condición: New.
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EUR 38,58
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Condición: New.
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EUR 40,34
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Hardback or Cased Book. Condición: New. Defect and Impurity Engineered Semiconductors and Devices: Volume 378. Book.
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 39,67
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Science and Society: An Independent Journal of Marxism, Volume 51, Number 2, Summer 1987
David Goldway (ed.); contributors - JM Barbalet; Irving Adler; Ashok Rudra; David Laibman; Roger Gottlieb; Alan Carling; Sheila Delany
Editorial: NY: John Jay College, 1987, 1987
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Librería: Books on the Web, Winnipeg, MB, CanadaBooks on the Web
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EUR 10,10
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Añadir al carritoPaper bound, Pp130-256. As new. Contents: J.M. Barbalet on The Labor Aristocracy in Context; Irving Adler on Some Philosophical Implications of Modern Mathematics; Ashok Rudra on Lessons for Third World Marxists; David Laibman on Modes and Transitions; Roger Gottlieb on Historical Laws, Social Primacy; Alan Carling on Classes and Choices; Sheila Delany on Two Studies of Marriage; plus book reviews. 215 grams - ships letter mail.…
Defect & Impurity Engineered Semiconductors & Devices April,1995 (Materials Research Society Symposium Proceedings Volume 378)
Ashok, S./ J.Chevalier; I.Akasaki; N.M.Johnson; B.L.Sopori (eds.)
Editorial: MRS, Materials Research Society, c.1995, 1995
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Librería: Harry Alter, Sylva, NC, Estados Unidos de AmericaHarry Alter
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EUR 27,56
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Añadir al carritohardcover. Condición: Good. MRS, Materials Research Society, Pittsburgh. c.1995, 8vo. cloth, 1054pp., dj from a neighboring book partly peeled onto rear cover, ow VG $.
Idioma: Inglés
Editorial: Jaypee Brothers Medical Publishers (P) Ltd., 2010
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 45,19
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Condición: New. pp. 324 1st Edition.
Idioma: Inglés
Editorial: Jaypee Brothers Medical Publishers (P) Ltd., 2010
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EUR 41,76
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Condición: New. pp. 324.
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Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 54,09
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Condición: New.
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Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino UnidoRarewaves.com USA
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EUR 59,33
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Hardback. Condición: New. Defect engineering has come of age. That theme is well documented by both the academic and industrial research communities in this book from MRS. Going beyond defect control, the book explores the engineering of desired properties in semiconductor materials and devices through the deliberate introduction and manipulation of defects and impurities. Papers are grouped around ten distinct topics covering materials, processing and devices. Topics include: grown-in defects in bulk crystals; grown-in defects in thin films; gettering and related phenomena; hydrogen interaction with semiconductors; defect issues in widegap semiconductors; defect characterization; ion implantation and process-induced defects; defects in devices; interfaces, quantum wells and superlattices; and defect properties, reaction, activation and passivation.…
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 41,10
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 41,97
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Condición: New. In English.
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EUR 41,95
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Condición: New.
Defect and Impurity Engineered Semiconductors and Devices: Volume 378: Symposium Held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A (MRS Proceedings)
Edited by I. Akasaki , S. Ashok , J. Chevallier , N. M. Johnson , B. L. Sopori
- Tapa dura
- Primera edición
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 51,36
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Condición: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Akasaki, I. (Meijo University, Japan); Ashok, S.; Chevallier, J.; Johnson, N. M.; Sopori, B. L. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 1082 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TGM; TJFD5. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 229 x 152 x 56. Weight in Grams: 1600. . 1995. 1st Edition. hardcover. . . . .…
Temporal Bone Imaging
Hoeffner, Ellen G., M.D. (EDT); Mukherji, Suresh K., M.D. (EDT); Gandhi, Dheeraj, M.D. (EDT); Gomez-Hassan, Diana, Ph.D. (EDT); Gujar, Sachin, M.D. (EDT)
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 63,50
Envío por EUR 2,35Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Defect and Impurity Engineered Semiconductors and Devices: Volume 378: Symposium Held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A (MRS Proceedings)
Edited by I. Akasaki , S. Ashok , J. Chevallier , N. M. Johnson , B. L. Sopori
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
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EUR 65,35
Envío por EUR 9,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Akasaki, I. (Meijo University, Japan); Ashok, S.; Chevallier, J.; Johnson, N. M.; Sopori, B. L. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 1082 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TGM; TJFD5. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 229 x 152 x 56. Weight in Grams: 1600. . 1995. 1st Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.…
Temporal Bone Imaging
Hoeffner, Ellen G., M.D. (EDT); Mukherji, Suresh K., M.D. (EDT); Gandhi, Dheeraj, M.D. (EDT); Gomez-Hassan, Diana, Ph.D. (EDT); Gujar, Sachin, M.D. (EDT)
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 73,13
Envío por EUR 2,35Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Condición: New.
Advances in Machine Learning and Data Mining for Astronomy
Way, Michael J. (EDT); Scargle, Jeffrey D. (EDT); Ali, Kamal M. (EDT); Srivastava, Ashok N. (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2016
Serie: Libro 26 de 56 - Chapman & Hall/CRC Data Mining and Knowledge Discovery
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 74,01
Envío por EUR 2,35Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Temporal Bone Imaging
Hoeffner, Ellen G., M.D. (EDT); Mukherji, Suresh K., M.D. (EDT); Gandhi, Dheeraj, M.D. (EDT); Gomez-Hassan, Diana, Ph.D. (EDT); Gujar, Sachin, M.D. (EDT)
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 63,13
Envío por EUR 17,70Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Advances in Machine Learning and Data Mining for Astronomy
Way, Michael J. (EDT); Scargle, Jeffrey D. (EDT); Ali, Kamal M. (EDT); Srivastava, Ashok N. (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2016
Serie: Libro 26 de 56 - Chapman & Hall/CRC Data Mining and Knowledge Discovery
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EUR 80,69
Envío por EUR 2,35Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2016
Serie: Libro 26 de 56 - Chapman & Hall/CRC Data Mining and Knowledge Discovery
- Tapa blanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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EUR 75,24
Envío por EUR 7,67Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Condición: New. pp. 744.
