Importe total (1 artículo artículos):
Destino del pedido:
khare jitendra (20 resultados)
Ir a los resultados principales
Filtros de búsqueda
Tipo de artículo
- Todos los tipos de productos
- Libros (20)
- Revistas y publicaciones (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Cómics (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Partituras (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Arte, grabados y pósters (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Fotografías (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Mapas (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Manuscritos y coleccionismo de papel (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
Condición Más información
- Nuevo (14)
- Como nuevo, Excelente o Muy bueno (4)
- Bueno o Aceptable (1)
- Regular o Pobre (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Tal como se indica (1)
Encuadernación
Más atributos
- Primera edición (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Firmado (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Sobrecubierta (No hay ningún otro resultado que coincida con este filtro.)
- Con imágenes (4)
- No impresión bajo demanda (15)
Idioma (2)
Gastos de envío gratis
Ubicación del vendedor
Valoración de los vendedores
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 13,63
Envío por EUR 3,87
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Good. 150 pp., Hardcover, ex library else text clean and binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
-
From Contamination To Defects, Faults And Yield Loss
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 75,65
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing, 5)
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 86,66
Envío por EUR 5,97
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,85
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing)
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,43
Envío por EUR 13,86
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing, 5)
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,43
Envío por EUR 13,86
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 130,80
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,42
Envío por EUR 17,35
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 132,91
Envío por EUR 3,43
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 172.
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 30,18
Envío por EUR 105,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This has been mainly achieved by a continuous drive towards smaller feature sizes, larger dies, and better packing efficiency. However, this greater functionality has also resulted in substantial increases in the capital investment needed to build fabrication facilities. Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield. Modern VLSI research and engineering (which includes design manufacturing and testing) encompasses a very broad range of disciplines such as chemistry, physics, material science, circuit design, mathematics and computer science. Due to this diversity, the VLSI arena has become fractured into a number of separate sub-domains with little or no interaction between them. This is the case with the relationships between testing and manufacturing. From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications focuses on the core of the interface between manufacturing and testing, i.e., the contamination-defect-fault relationship. The understanding of this relationship can lead to better solutions of many manufacturing and testing problems. Failure mechanism models are developed and presented which can be used to accurately estimate probability of different failures for a given IC. This information is critical in solving key yield-related applications such as failure analysis, fault modeling and design manufacturing.
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss : Simulation and Applications
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 124,69
Envío por EUR 17,35
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingIdioma: Inglés
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 1996
ISBN 10: 0792397142 ISBN 13: 9780792397144
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 132,56
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. States that over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This book focuses on the core of the interface between manufacturing and testing, ie, the contamination-defect-fault relationship. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 166 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 930. . 1996. Hardback. . . . .
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingIdioma: Inglés
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 1996
ISBN 10: 0792397142 ISBN 13: 9780792397144
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,71
Envío por EUR 9,02
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. States that over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This book focuses on the core of the interface between manufacturing and testing, ie, the contamination-defect-fault relationship. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 166 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 930. . 1996. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing (5))
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 164,42
Envío por EUR 28,92
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
-
From Contamination to defects, faults and yield Loss. Simulation and Applications
Librería: Celler Versandantiquariat, Eicklingen, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 14,00
Envío por EUR 38,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoKluwer Academic Publishers, Boston, 1996. 150 pages, Paperback--- - former library book in good condition - 468 Gramm.
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss (eng)
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 86,24
Envío por EUR 5,50
Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: new. Questo è un articolo print on demand.
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 92,27
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This has been mainly achieved by a continuous drive towards smaller feature sizes, larger dies, and better packing efficiency. However, this gre.
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 92,27
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Over the years there has been a large increase in the functionality available on a single integrated circuit. This has been mainly achieved by a continuous drive towards smaller feature sizes, larger dies, and better packing efficiency. However, this gre.
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 146,61
Envío por EUR 7,52
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 172 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
-
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Libro 28 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 148,23
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 172.
