From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications (Frontiers in Electronic Testing)

Khare, Jitendra B., Maly, Wojciech

ISBN 10: 0792397142 ISBN 13: 9780792397144
Editorial: Kluwer, 1996
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Aceptable Encuadernación de tapa dura

Vendido por Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America

Honoris Librarius
Vendedor de AbeBooks desde 12 de julio de 1996

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Usado - Encuadernación de tapa dura

Condición: Usado - Aceptable

Precio:
EUR 21,71
EUR 3,86 shipping
Ships within Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito