Fiori charles (23 resultados)
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Goldstein, Joseph,Joy, David C.,Newbury, Dale E.,Lifshin, Eric,Echlin, Patrick,Fiori, Charles
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Charles Fiori; Eric Lifshin
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Charles Fiori; Eric Lifshin
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Charles Fiori; Eric Lifshin
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Alton D. Romig Jr.; Charles E. Lyman; Charles Fiori; Eric Lifshin
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Alton D. Romig Jr.; Charles E. Lyman; Charles Fiori; Eric Lifshin
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Joseph I. Goldstein,Dale E. Newbury,Patrick Echlin,David C. Joy,Charles Fiori,Eric Lifshin
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hardcover. Condición: Very Good. Springer November 1981.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Hardcover. Condición: Very Good. Estado de la sobrecubierta: Fair. 2nd Edition.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig Jr., Alton D.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists (Second Edition)
Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig, Alton D. Jr.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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EUR 24,07
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Condición: Very Good. Hardcover, [xviii], 820 pages. Very Good condition in a Good dust jacket. Second edition. Size 10.25"x7.5". "The authors, emphasizing the practical aspects of the techniques described, discuss user-controlled functions of scanning electron microscope and electron microprobe electron optics, the characterist…ics of electron-specimen interactions, image formation and interpretation, and x-ray spectrometry." Book has moderate handling/shelfwear. Previous owner's name on front fly. Binding is tight. Text is clean and unmarked. Dust jacket has edgewear and sunned spine.
- Tapa blanda
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists. 2nd Edition
Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Alton D. Romig Jr.; Charles E. Lyman; Charles Fiori; Eric Lifshin
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Hardcover. Condición: Near Fine. Estado de la sobrecubierta: Very Good. 2nd Edition. Hardback in near fine condition with a very good plus dust jacket. 2nd Edition.
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists and Geologists Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick and Joy, D. C.
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig Jr., Alton D.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Jun 01, 1992. Condición: gebraucht; wie neu. Hardcover mit Schutzumschlag, dieser mit minimalen Standspuren, Buch selbst ist ungebraucht, 2. Auflage.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig Jr., Alton D.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
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Editorial: Europe, n° 698-699, juin 1987. Un volume in-8°, broché. 1987
Librería: Librairie Dhouailly, Paris, , FranciaLibrairie Dhouailly
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[17612].
Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy: A Laboratory Workbook
Lyman, Charles E.; Newbury, Dale E.; Goldstein, Joseph; Williams, David B.; Romig Jr., Alton D.; Armstrong, John; Echlin, Patrick; Fiori, Charles; Joy, David C.; Lifshin, Eric; Peters, Klaus-Rüdiger
- Tapa blanda
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig Jr., Alton D.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Goldstein, Joseph; Newbury, Dale E.; Echlin, Patrick; Joy, David C.; Romig Jr., Alton D.; Lyman, Charles E.; Fiori, Charles; Lifshin, Eric
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Kartoniert / Broschiert. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. During the last four decades remarkable developments have taken place in instrumentation and techniques for characterizing the microstructure and microcomposition of materials. Some of the mos…t important of these instruments involve the use of electron beam.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Joseph Goldstein|Dale E. Newbury|Patrick Echlin|David C. Joy|Charles Fiori|Eric Lifshin
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book has evolved by processes of selection and expansion from its predecessor, Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), published by Plenum Press in 1975. The interaction of the authors with students at the… Short Course on Scanning Electron Micro.
