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Comprehensive Land Consolidation in China
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 45,29
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 49,30
Envío por EUR 7,53
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Comprehensive Land Consolidation in China
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 54,67
Envío por EUR 2,28
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Comprehensive Land Consolidation in China
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 46,79
Envío por EUR 17,39
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 62,65
Envío por EUR 3,44
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Comprehensive Land Consolidation in China
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,77
Envío por EUR 13,89
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Active Probe Atomic Force Microscopy (Paperback)
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing AG, Cham, 2025
ISBN 10: 3031442350 ISBN 13: 9783031442353
Librería: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 68,60
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: new. Paperback. From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Centered around AFM, a broad range of mechatronic system topics are covered including mechanics, sensors, actuators, transmission design, system identification, signal processing, dynamic system modeling, controller. With a solid theoretical foundation, practical examples are provided for AFM subsystem level design on nano-positioning system, cantilever probe, control system and system integration. This book emphasizes novel development of active cantilever probes with embedded transducers, which enables new AFM capabilities for advanced applications. Full design details of a low-cost educational AFM and a Scale Model Interactive Learning Extended Reality (SMILER) toolkit are provided, which helps instructors to make use of this book for curriculum development. This book aims to empower AFM users with deeper understanding of theinstrument to extend AFM functionalities for advanced state-of-the-art research studies. Going beyond AFM, materials presented in this book are widely applicable to precision mechatronic system design covered in many upper-level graduate courses in mechanical and electrical engineering to cultivate next generation instrumentalists. From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Comprehensive Land Consolidation in China
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 51,16
Envío por EUR 17,39
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 58,68
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Librería: Books From California, Simi Valley, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 77,46
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Fine.
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Comprehensive Land Consolidation in China
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 71,10
Envío por EUR 14,49
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 370 pages. 9.18x6.12 inches. In Stock.
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 89,41
Envío por EUR 3,44
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 2024th edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 88,65
Envío por EUR 7,53
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 86,93
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 102,29
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 103,14
Envío por EUR 9,05
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Active Probe Atomic Force Microscopy (Paperback)
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing AG, Cham, 2025
ISBN 10: 3031442350 ISBN 13: 9783031442353
Librería: AussieBookSeller, Truganina, VIC, Australia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 82,34
Envío por EUR 31,89
Se envía de Australia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: new. Paperback. From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Centered around AFM, a broad range of mechatronic system topics are covered including mechanics, sensors, actuators, transmission design, system identification, signal processing, dynamic system modeling, controller. With a solid theoretical foundation, practical examples are provided for AFM subsystem level design on nano-positioning system, cantilever probe, control system and system integration. This book emphasizes novel development of active cantilever probes with embedded transducers, which enables new AFM capabilities for advanced applications. Full design details of a low-cost educational AFM and a Scale Model Interactive Learning Extended Reality (SMILER) toolkit are provided, which helps instructors to make use of this book for curriculum development. This book aims to empower AFM users with deeper understanding of theinstrument to extend AFM functionalities for advanced state-of-the-art research studies. Going beyond AFM, materials presented in this book are widely applicable to precision mechatronic system design covered in many upper-level graduate courses in mechanical and electrical engineering to cultivate next generation instrumentalists. From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Shipping may be from our Sydney, NSW warehouse or from our UK or US warehouse, depending on stock availability.
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 116,80
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Active Probe Atomic Force Microscopy : A Practical Guide on Precision Instrumentation
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2025
ISBN 10: 3031442350 ISBN 13: 9783031442353
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 69,54
Envío por EUR 63,32
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Centered around AFM, a broad range of mechatronic system topics are covered including mechanics, sensors, actuators, transmission design, system identification, signal processing, dynamic system modeling, controller. With a solid theoretical foundation, practical examples are provided for AFM subsystem level design on nano-positioning system, cantilever probe, control system and system integration. This book emphasizes novel development of active cantilever probes with embedded transducers, which enables new AFM capabilities for advanced applications. Full design details of a low-cost educational AFM and a Scale Model Interactive Learning Extended Reality (SMILER) toolkit are provided, which helps instructors to make use of this book for curriculum development. This book aims to empower AFM users with deeper understanding of theinstrument to extend AFM functionalities for advanced state-of-the-art research studies. Going beyond AFM, materials presented in this book are widely applicable to precision mechatronic system design covered in many upper-level graduate courses in mechanical and electrical engineering to cultivate next generation instrumentalists.
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Active Probe Atomic Force Microscopy : A Practical Guide on Precision Instrumentation
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2024
ISBN 10: 3031442326 ISBN 13: 9783031442322
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 96,29
Envío por EUR 64,12
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM). Centered around AFM, a broad range of mechatronic system topics are covered including mechanics, sensors, actuators, transmission design, system identification, signal processing, dynamic system modeling, controller. With a solid theoretical foundation, practical examples are provided for AFM subsystem level design on nano-positioning system, cantilever probe, control system and system integration. This book emphasizes novel development of active cantilever probes with embedded transducers, which enables new AFM capabilities for advanced applications. Full design details of a low-cost educational AFM and a Scale Model Interactive Learning Extended Reality (SMILER) toolkit are provided, which helps instructors to make use of this book for curriculum development. This book aims to empower AFM users with deeper understanding of theinstrument to extend AFM functionalities for advanced state-of-the-art research studies. Going beyond AFM, materials presented in this book are widely applicable to precision mechatronic system design covered in many upper-level graduate courses in mechanical and electrical engineering to cultivate next generation instrumentalists.
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Comprehensive Land Consolidation in China
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 188,82
Envío por EUR 2,28
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Comprehensive Land Consolidation in China
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 189,33
Envío por EUR 17,39
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 202,99
Envío por EUR 7,53
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Comprehensive Land Consolidation in China
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 208,37
Envío por EUR 2,28
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Comprehensive Land Consolidation in China
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 198,26
Envío por EUR 17,39
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 221,00
Envío por EUR 3,44
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 218,83
Envío por EUR 13,89
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Comprehensive Land Consolidation in China (China Perspectives)
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 229,08
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Comprehensive Land Consolidation in China
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 279,07
Envío por EUR 14,49
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 368 pages. 9.19x6.13x1.10 inches. In Stock.
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Active Probe Atomic Force Microscopy (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 58,23
Envío por EUR 6,80
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