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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Budget Books, Pasadena, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 10,63
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Fair. No Jacket. 1st Edition. This book is seriously flawed by the fact that pages 289 to 307 function as an insert. They are completely separated from the binding. But the book is all there and is otherwise in new condition. There are no tears or signs of wear to the clean pages or the cover.
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Plastic-Encapsulated Microelectronics: Materials, Processes, Quality, Reliability, and Applications
Librería: Florida Mountain Book Co., Datil, NM, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 17,72
Envío por EUR 4,73
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Very Good. Hardcover, [xxxiv], 474 pages. Very Good condition/no dust jacket. Ex-library. Size 9.5"x6.5". "For the first time between two covers, here is a comprehensive, critical review of the state of the art in PEMs and assemblies that incorporate them. The most timely book on the subject, it provides professionals with a systematic, scientific exploration of crucial technical and reliability issues concerning the manufacture and use of PEMs - with special attention focusing on environment-specific applications." Library stamp on front pastedown & title page, previous owner's name on front & rear pastedowns, else Near Fine condition, clean and unmarked.
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Plasticâ"Encapsulated Microelectronics: Materials, Processes, Quality, Reliability, and Applications
Librería: WeBuyBooks, Rossendale, LANCS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 19,69
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Añadir al carritoCondición: Good. Most items will be dispatched the same or the next working day. A copy that has been read but remains in clean condition. All of the pages are intact and the cover is intact and the spine may show signs of wear. The book may have minor markings which are not specifically mentioned. Ex library copy with usual stamps & stickers.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging Series)
Libro 4 de 4: Electronic PackagingIdioma: Inglés
Publicado por CRC Press, Boca Raton, FL, 1997
ISBN 10: 0849394503 ISBN 13: 9780849394508
Librería: Dorley House Books, Inc., Hagerstown, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 35,44
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Near Fine. B/W Photos; Diagrams, Etc Ilustrador. 1st. 1st printing; glossy pictorial c; 307 clean, unmarked pages.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 44,28
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Acceptable. Connecting readers with great books since 1972. Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have condition issues including wear and notes/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 52,43
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,48
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 55,04
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 69,65
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Añadir al carritoCondición: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 54,68
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 57,73
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 62,24
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INFLUENCE OF TEMPERATURE ON MICROELECTRONICS AND SYSTEM RELIABILITY
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 84,31
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Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 85,54
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 336 pages. 10.00x7.01x0.67 inches. In Stock.
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Safeguarding Homeland Security : Governors and Mayors Speak Out
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 128,73
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Safeguarding Homeland Security : Governors and Mayors Speak Out
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 113,51
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Microelectronic Reliability, Vol. 1: Reliability, Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition)
Idioma: Inglés
Publicado por Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Librería: Book Alley, Pasadena, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 136,48
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 113,35
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 146,13
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
Idioma: Inglés
Publicado por Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 151,82
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Microelectronic Reliability, Vol. 1: Reliability, Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition)
Idioma: Inglés
Publicado por Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 154,17
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 139,24
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 136,30
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,10
Envío por EUR 2,27
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
Idioma: Inglés
Publicado por Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,28
Envío por EUR 2,27
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Microelectronic Reliability, Vol. 1: Reliability, Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition)
Idioma: Inglés
Publicado por Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 154,32
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 152,80
Envío por EUR 17,20
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
Idioma: Inglés
Publicado por Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 154,31
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
Idioma: Inglés
Publicado por Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 170,97
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Libro 4 de 4: Electronic PackagingIdioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 1997
ISBN 10: 0849394503 ISBN 13: 9780849394508
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 185,52
Envío por EUR 3,43
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 336 1st Edition.
