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Extended Defects In Germanium: Fundamental And Technological Aspects (springer Series In Materials Science)
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Extended Defects in Germanium - Fundamental and Technological Aspects
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Extended Defects in Germanium - Fundamental and Technological Aspects
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science, 270)
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: 3rd St. Books, Lees Summit, MO, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 127,32
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science, 270)
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 137,01
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Germanium-Based Technologies: From Materials to Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science 2007-03-23, 2007
ISBN 10: 0080449530 ISBN 13: 9780080449531
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 147,88
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,99
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Germanium-Based Technologies
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 167,06
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Extended Defects in Germanium: Fundamental and Technological Aspects (Springer Series in Materials Science, 118)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 163,95
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Germanium-Based Technologies: From Materials to Devices
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 168,34
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 480 pages. 9.75x6.75x1.25 inches. In Stock.
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science, 270)
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 176,12
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science, 270)
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Germanium-Based Technologies
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 190,54
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Extended Defects in Germanium
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 208,60
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science (270))
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 219,63
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact: 270 (Springer Series in Materials Science)
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Fundamental and Technological Aspects of Extended Defects in Germanium
Idioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag Berlin And Heidelberg Gmbh & Co. Kg, 2009
ISBN 10: 3540856110 ISBN 13: 9783540856115
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 235,76
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 320 pages. 9.75x6.75x0.75 inches. In Stock.
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Extended Defects in Germanium: Fundamental and Technological Aspects (Springer Series in Materials Science (118))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 227,17
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Germanium-Based Technologies: From Materials to Devices
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 257,23
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 476 pages. 9.45x6.50x1.12 inches. In Stock.
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Extended Defects in Germanium: Fundamental and Technological Aspects (Springer Series in Materials Science)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 243,82
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies : Origin, Characterization, Control, and Device Impact
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 277,46
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 474 pages. 9.25x6.10x1.30 inches. In Stock.
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Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 290,55
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Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 292,54
Envío por EUR 3,43
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science, 270)
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 289,02
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Germanium-Based Technologies: From Materials to Devices
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
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Germanium-Based Technologies
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science Mai 2007, 2007
ISBN 10: 0080449530 ISBN 13: 9780080449531
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 150,00
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Germanium is a semiconductor material that formed the basis for the development of transistor technology. Although the breakthrough of planar technology and integrated circuits put silicon in the foreground, in recent years there has been a renewed interest in germanium, which has been triggered by its strong potential for deep submicron (sub 45 nm) technologies. Germanium-Based technologies: From Materials to Devices is the first book to provide a broad, in-depth coverage of the field, including recent advances in Ge-technology and the fundamentals in material science, device physics and semiconductor processing. The contributing authors are international experts with a world-wide recognition and involved in the leading research in the field. The book also covers applications and the use of Ge for optoelectronics, detectors and solar cells. An ideal reference work for students and scientists working in the field of physics of semiconductor devices and materials, as well as for engineers in research centres and industry. Both the newcomer and the expert should benefit from this unique book. 480 pp. Englisch.
