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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsIdioma: Inglés
Publicado por Institute of Physics Publishing, GB, 2016
ISBN 10: 0750318376 ISBN 13: 9780750318372
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Extended Defects In Germanium: Fundamental And Technological Aspects (springer Series In Materials Science)
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Extended Defects in Germanium - Fundamental and Technological Aspects
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Extended Defects in Germanium - Fundamental and Technological Aspects
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsIdioma: Inglés
Publicado por Institute of Physics Publishing, GB, 2016
ISBN 10: 0750318376 ISBN 13: 9780750318372
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 35,45
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science, 270)
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science, 270)
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: 3rd St. Books, Lees Summit, MO, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 128,71
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsIdioma: Inglés
Publicado por Institute of Physics Publishing, GB, 2016
ISBN 10: 0750312734 ISBN 13: 9780750312738
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Germanium-Based Technologies: From Materials to Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science 2007-03-23, 2007
ISBN 10: 0080449530 ISBN 13: 9780080449531
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 148,25
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Germanium-Based Technologies
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Extended Defects in Germanium: Fundamental and Technological Aspects (Springer Series in Materials Science, 118)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,36
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Germanium-Based Technologies: From Materials to Devices
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science, 270)
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 176,56
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science, 270)
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 176,56
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Germanium-Based Technologies
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 190,54
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Extended Defects in Germanium
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 210,87
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact (Springer Series in Materials Science (270))
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 222,02
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 471.
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies: Origin, Characterization, Control, and Device Impact: 270 (Springer Series in Materials Science)
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 222,19
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Añadir al carritoCondición: New. 1st ed. 2018 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices
Libro 16 de 72: IOP Expanding PhysicsIdioma: Inglés
Publicado por Institute of Physics Publishing, GB, 2016
ISBN 10: 0750312734 ISBN 13: 9780750312738
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 151,44
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Fundamental and Technological Aspects of Extended Defects in Germanium
Idioma: Inglés
Publicado por Springer-Verlag Berlin And Heidelberg Gmbh & Co. Kg, 2009
ISBN 10: 3540856110 ISBN 13: 9783540856115
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 236,12
Envío por EUR 14,47
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 320 pages. 9.75x6.75x0.75 inches. In Stock.
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Extended Defects in Germanium: Fundamental and Technological Aspects (Springer Series in Materials Science (118))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 227,74
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Germanium-Based Technologies: From Materials to Devices
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 257,87
Envío por EUR 14,47
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 476 pages. 9.45x6.50x1.12 inches. In Stock.
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Extended Defects in Germanium: Fundamental and Technological Aspects (Springer Series in Materials Science)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 244,43
Envío por EUR 28,94
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 290,45
Envío por EUR 3,46
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 436.
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Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies : Origin, Characterization, Control, and Device Impact
Libro 186 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 277,87
Envío por EUR 14,47
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 474 pages. 9.25x6.10x1.30 inches. In Stock.
