Borja juan pablo (20 resultados)

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
- Tapa blanda
Librería: BMV Bloor, Toronto, ON, CanadaBMV Bloor
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EUR 18,39
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Condición: Very Good. Used - Very Good.

Caura
Baglioni, Rainiero; Beltrán Fortes, José; Bernádez Sánchez, Eloísa; Borja Barrera, César; Borja Barrera, Francisco; Bouzas Abad, Ana; Buzón Alarcón, Manuel; Chaves Tristán, Francisca; Coto Sarmiento, María; Escudero Carrillo, Javier; Ferrer Albelda, Eduardo; García Alfonso, Eduardo; García Fernández, Francisco José; García Rivero, Daniel; García Viñas, Esteban; Garrido González, Pablo; Henares Guerra, María Teresa; Jiménez Sancho, Álvaro; Lafuente Ibáñez, Pilar; López Serena, María Del Rocío; Mora Vicente, Gregorio Manuel; Moreno Megías, Violeta; Vallejo Sánchez, Juan Ignacio; Vázquez Paz, Jacobo
Idioma: Español
Editorial: Editorial Universidad de Sevilla-Secretariado de Publicaciones, 2018
- Tapa blanda
Librería: KALAMO BOOKS, Burriana, CS, EspañaKALAMO BOOKS
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EUR 30,76
Envío por EUR 19,86Se envía de España a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 57,65
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Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer 9/26/2016, 2016
- Tapa blanda
Librería: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, Estados Unidos de AmericaBargainBookStores
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EUR 60,08
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Paperback or Softback. Condición: New. Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics: Time Dependent Failure Mechanisms. Book.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 60,73
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Educación patrimonial en entornos digitales
Aso Morán, Borja / Bermejo Malumbres, Eloy / Cabañero Martín, Víctor Manuel / Cambil Hernández, María De La Encarnación / Camuñas-García, Daniel / De Miguel González, Rafael Pablo / Delgado Algarra, Emilio José / Español Solana, Darío / Fontal Merillas, Olaia / Fuentes Moreno, Concha / García Ceballos, Silvia / Gil Biraud, Víctor Enrique / González Mesa, Dr. José Manuel / Guillén Moliner, Mercedes / Hernández De La Cruz, José Manuel / Hurtado Torres, Dani / Jiménez-Palacios, Rocío / Kratochvíl, Ondrej / Mar Begueria, Juan / Marta Lazo, Carmen María / Martín Cáceres, Myriam J. / Carolina Martín Piñol / Martínez Gil, Tània / Mur Sangrá, Lorenzo / Navarro Neri, Iñaki / Pallarés Jiménez, Miguel Ángel / Peñalva, Sheila / Piazuelo Rodríguez, Ism.
- Tapa blanda
Librería: bookish.org, Barcelona, B, Españabookish.org
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EUR 22,12
Envío por EUR 32,00Se envía de España a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Tapa blanda. Condición: New. Ofrece una visión contemporánea sobre cómo la tecnología está transformando la educación patrimonial, analizando herramientas como plataformas digitales, inteligencia artificial, videojuegos y modelado en 3D. Recopila experiencias innovadoras de aula y proyectos internacionales que destacan prácticas de alfabetización mediática y musealización digital.…

Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2016-09, 2016
- Tapa blanda
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media
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EUR 57,77
Envío por EUR 18,33Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
PF. Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 66,26
Envío por EUR 11,09Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 60,80
Envío por EUR 17,75Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 66,55
Envío por EUR 17,75Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 81,67
Envío por EUR 3,56Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 118.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer Verlag, 2016
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 78,77
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Paperback. Condición: Brand New. 116 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock.

Biblioteca de Estudios Madrileños LXI. Ciclo de Conferencias. Madrid, medio siglo de desarrollo urbano (1973-2023)
Pedro Montoliú, coord. - Juan Díez Nicolás - Rafael Fraguas de Pablo - María Victoria Gómez - Agustín Blanco Martín - Carlos Gozález Esteban - Francisco de Borja Carabante - José María Ezquiaga - Enrique Manzano Martínez - Ana Luengo Añón - Salvador Rueda Palenzuela - Mónica Luengo Añón - José Antonio Martínez Páramo - Pedro Montoliú - Rocío Cascajo Jiménez - Patxi J. Lamíquiz Daudén - Juan Miguel Hernández de León - Antonio Castro Jiménez - Araceli Pereda Alonso - Lucía Casani
Idioma: Español
Editorial: Instituto de Estudios Madrileños - CSIC, Madrid, 2023
- Tapa blanda
Librería: Librería Antonio Azorín, San Lorenzo de El Escorial, M, EspañaLibrería Antonio Azorín
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EUR 24,00
Envío por EUR 57,00Se envía de España a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Encuadernación de tapa blanda. Condición: Nuevo. Idioma español. Ejemplar nuevo. New. Dimensiones: 24x17 - 275 pp.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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EUR 50,45
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics | Time Dependent Failure Mechanisms | Juan Pablo Borja (u. a.) | Taschenbuch | viii | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9783319432182 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…

Editorial: Editorial Eusko Ikaskuntza, S.A. Sociedad de Estudios Vascos, 1985
- Tapa blanda
Librería: Almacen de los Libros Olvidados, Barakaldo, BI, EspañaAlmacen de los Libros Olvidados
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EUR 19,80
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tapa blanda. Condición: 2ª Mano. 2ª Mano. Editorial Eusko Ikaskuntza, S.A. Sociedad de Estudios Vascos. 1985, Cuadernos de sección Historia-geografía, 6. El archivo de la casa de Zavala, Pleito motivado. por el trabajo en Auzolan, Protagonistas de la. historia vasca Sebastian Zapirain, El estatuto. alaves y la carta foral dos proyectos autonomicos. Libro. …

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
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EUR 46,22
Envío por EUR 4,00Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: new. Questo è un articolo print on demand.

Idioma: Inglés
Editorial: Berlin Springer International Publishing Springer Sep 2016, 2016
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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EUR 53,49
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book focuses on the experimental and theoretical aspects of the time-dependent breakdown of advanced dielectric films used in gigascale electronics. Coverage includes the most important failure mechanisms for thin low-k films, new and established experimental techniques, recent advances in the area of dielectric failure, and advanced simulations/models to resolve and predict dielectric breakdown, all of which are of considerable importance for engineers and scientists working on developing and integrating present and future chip architectures. The book is specifically designed to aid scientists in assessing the reliability and robustness of electronic systems employing low-k dielectric materials such as nano-porous films. Similarly, the models presented here will help to improve current methodologies for estimating the failure of gigascale electronics at device operating conditions from accelerated lab test conditions. Numerous graphs, tables, and illustrations are included to facilitate understanding of the topics. Readers will be able to understand dielectric breakdown in thin films along with the main failure modes and characterization techniques. In addition, they will gain expertise on conventional as well as new field acceleration test models for predicting long term dielectric degradation. 105 pp. Englisch.…

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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EUR 82,69
Envío por EUR 7,69Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. Print on Demand pp. 118.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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EUR 83,03
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 118.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer International Publishing, 2016
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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EUR 48,74
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Kartoniert / Broschiert. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Comprehensively describes established and novel concepts for time-to-failure modeling of low permittivity, nano-porous dielectric filmsIntroduces key concepts from reliability engineering combined with the latest developments in interconnect desig.…