Bentarzi hamid (88 resultados)
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Hardback or Cased Book. Condición: New. The 1st International Conference on Computational Engineering and Intelligent Systems. Book.
Idioma: Inglés
Editorial: Berlin ; Heidelberg : Springer, 2011
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Gr.-8°, gebundene Ausgabe. Condición: Sehr gut. XIII, 104 S. : graph. Darst. Gebraucht: sehr guter Zustand. Contents: Introduction / The MOS STructure / The MOS Oxide and its Defects / Review of Transport Mechanism in Thin Oxides / of MOS Devices / Experimental Techniques / Theoretical Approaches of Mobile Ions Density Distribution Determination / Theoretical Model of Mobile Ions Distribution and Ionic Current in the MOS Oxide / Index. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 315.…
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Hardback or Cased Book. Condición: New. The 2nd International Conference on Computational Engineering and Intelligent Systems. Book.
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Hardback. Condición: New.
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2011
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Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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EUR 64,77
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2011
- Tapa dura
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EUR 116,22
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2011
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EUR 118,60
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2013
- Tapa blanda
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EUR 114,61
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2011
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EUR 116,37
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2011
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino UnidoRarewaves.com UK
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Hardback. Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: J.B. Metzler, 2011
- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
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EUR 29,87
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Condición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book focuses on the importance of mobile ions presented in oxide structures, what significantly affects the metal-oxide-semiconductor (MOS) properties. The reading starts with the definition of the MOS structure, its various aspects and different types of charges presented in their structure. A review on ionic transport mechanisms and techniques for measuring the mobile ions concentration in the oxides is given, special attention being attempted to the Charge Pumping (CP) technique associated with the Bias Thermal Stress (BTS) method. Theoretical approaches to determine the density of mobile ions as well as their distribution along the oxide thickness are also discussed. The content varies from general to very specific examples, helping the reader to learn more about transport in MOS structures.…
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2013
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 138,92
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Condición: New. pp. xiv + 106.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2011
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Librería: StainesBookhub, Weybridge, SURRE, Reino UnidoStainesBookhub
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EUR 125,79
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Condición: New. A brand new book in pristine condition. Showing zero signs of shelf wear, creases, or damage.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2013
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Paperback. Condición: Brand New. 2011 edition. 117 pages. 9.25x6.10x0.28 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Verlag, 2011
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 153,27
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Hardcover. Condición: Brand New. 104 pages. 9.00x6.25x0.75 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2013
- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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EUR 95,25
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Taschenbuch. Condición: Neu. Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures | Mobile Ions Effects on the Oxide Properties | Hamid Bentarzi | Taschenbuch | Engineering Materials | xiv | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9783642266881 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2011
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