Bentarzi hamid (86 resultados)
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Hardback or Cased Book. Condición: New. The 1st International Conference on Computational Engineering and Intelligent Systems. Book.
Idioma: Inglés
Editorial: Berlin ; Heidelberg : Springer 2011
Serie: Engineering Materials, Libro 7 de 110. Libro 7 de 110 - Engineering Materials
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Gr.-8°, gebundene Ausgabe. Condición: Sehr gut. XIII, 104 S. : graph. Darst. Gebraucht: sehr guter Zustand. Contents: Introduction / The MOS STructure / The MOS Oxide and its Defects / Review of Transport Mechanism in Thin Oxides / of MOS Devices / Experimental Techniques / Theoretical Approaches of Mobile Ions Density Distribut…ion Determination / Theoretical Model of Mobile Ions Distribution and Ionic Current in the MOS Oxide / Index. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 315.
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Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
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Hardback or Cased Book. Condición: New. The 2nd International Conference on Computational Engineering and Intelligent Systems. Book.
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Condición: New.
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Hardback. Condición: New.
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EUR 57,48
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Condición: New. In.
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Hardback. Condición: New.
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Condición: New. In.
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 57,76
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2011
Serie: Engineering Materials, Libro 7 de 110. Libro 7 de 110 - Engineering Materials
- Tapa dura
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
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Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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EUR 63,84
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
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Hardback. Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2013
Serie: Engineering Materials, Libro 7 de 110. Libro 7 de 110 - Engineering Materials
- Tapa blanda
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EUR 123,56
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2011
Serie: Engineering Materials, Libro 7 de 110. Libro 7 de 110 - Engineering Materials
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 114,97
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2013
Serie: Engineering Materials, Libro 7 de 110. Libro 7 de 110 - Engineering Materials
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 113,23
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2013
Serie: Engineering Materials, Libro 7 de 110. Libro 7 de 110 - Engineering Materials
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 130,68
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2011
Serie: Engineering Materials, Libro 7 de 110. Libro 7 de 110 - Engineering Materials
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Idioma: Inglés
Editorial: J.B. Metzler 2011
Serie: Engineering Materials, Libro 7 de 110. Libro 7 de 110 - Engineering Materials
- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, , AlemaniaBuchpark
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EUR 29,00
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Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book focuses on the importance of mobile ions presented in oxide structures, what significantly affects the metal-oxide-semiconductor (MOS) properties. The reading starts with the definition of the MOS structure, its various aspects and differ…ent types of charges presented in their structure. A review on ionic transport mechanisms and techniques for measuring the mobile ions concentration in the oxides is given, special attention being attempted to the Charge Pumping (CP) technique associated with the Bias Thermal Stress (BTS) method. Theoretical approaches to determine the density of mobile ions as well as their distribution along the oxide thickness are also discussed. The content varies from general to very specific examples, helping the reader to learn more about transport in MOS structures.
Idioma: Inglés
Editorial: J.B. Metzler 2011
Serie: Engineering Materials, Libro 7 de 110. Libro 7 de 110 - Engineering Materials
- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, , AlemaniaBuchpark
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EUR 29,87
Envío por EUR 105,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book focuses on the importance of mobile ions presented in oxide structures, what significantly affects the metal-oxide-semiconductor (MOS) properties. The reading starts with the definition of the MOS structure, its various aspects an…d different types of charges presented in their structure. A review on ionic transport mechanisms and techniques for measuring the mobile ions concentration in the oxides is given, special attention being attempted to the Charge Pumping (CP) technique associated with the Bias Thermal Stress (BTS) method. Theoretical approaches to determine the density of mobile ions as well as their distribution along the oxide thickness are also discussed. The content varies from general to very specific examples, helping the reader to learn more about transport in MOS structures.
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Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino UnidoRarewaves.com UK
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EUR 61,87
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Hardback. Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2013
Serie: Engineering Materials, Libro 7 de 110. Libro 7 de 110 - Engineering Materials
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 137,60
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Condición: New. pp. xiv + 106.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2013
Serie: Engineering Materials, Libro 7 de 110. Libro 7 de 110 - Engineering Materials
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, , Reino UnidoRevaluation Books
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Paperback. Condición: Brand New. 2011 edition. 117 pages. 9.25x6.10x0.28 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Verlag 2011
Serie: Engineering Materials, Libro 7 de 110. Libro 7 de 110 - Engineering Materials
- Tapa dura
Librería: Revaluation Books, Exeter, , Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 151,06
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Hardcover. Condición: Brand New. 104 pages. 9.00x6.25x0.75 inches. In Stock.
