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Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials: Scanning Probe Microscopy Approach
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 236,66
Envío por EUR 14,49
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 282 pages. German language. 9.50x6.50x0.75 inches. In Stock.
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Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials: Scanning Probe Microscopy Approach
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10: 3642058442 ISBN 13: 9783642058448
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 246,91
Envío por EUR 14,49
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Wafer Bonding: Applications and Technology
Libro 62 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 524,64
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 499 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Wafer Bonding: Applications and Technology (Springer Series in Materials Science)
Libro 62 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 523,32
Envío por EUR 14,49
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 514 pages. 9.00x6.10x1.10 inches. In Stock.
