VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability 1ed

Wang, Laung-Terng; Wu, Cheng-Wen; Wen, Xiaoqing

ISBN 10: 0123705975 ISBN 13: 9780123705976
Editorial: Morgan Kaufmann, 2006
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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